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Le tableau des classifications contient toutes les catégories à travers lesquelles sont référencés nos produits.
Cliquez sur une catégorie pour afficher les produits correspondants 
   1 - CARACTERISATION ELECTRIQUE DES COUCHES SEMI-CONDUCTRICES
      NOUVEAU : CARACTERISATION DE CELLULES SOLAIRES
      A - CARACTERISATION PAR C-V / I-V
            Ensembles de mesures C-V / I-V par CONTACT SOUS POINTES
            Equipements pour caractérisation C-V par CONTACT MERCURE
            Accessoires & Options / Caractérisation par C-V
      B - MESURE DE RESISTIVITE PAR METHODE 4 POINTES
            APPAREILS DE MESURE de résistivité de surface gamme semi-conducteurs
                        Spécial pour caractérisation de jonctions USJ
            Configuration : Mesure de résistivité portable
            Configuration : Mesure de haute résistivité
            Configuration : Mesure de très faible résistivité
            Mesure 4 points par CONTACT MERCURE
            TÊTE 4 POINTES pour mesure de résistivité
            Micropositionneur spécial pour tête 4 pointes
            Accessoires & Options / Mesure de résistivité
      C - CARACTERISATION PAR EFFET HALL
            Equipements pour mesures d'effet Hall et autres paramètres
            Accessoires & Options / Caractérisation par effet Hall
   2 - AMINCISSEMENT DES PLAQUETTES DE SEMI-CONDUCTEURS
      A - AMINCISSEMENT UNITAIRE DE PUCE (Service)
      B - FILMS ADHESIFS POUR MAINTIEN DES PLAQUETTES
      C- EQUIPEMENTS D'INSOLATION POUR FILM UV
      D - POSE DE FILMS SUR PLAQUETTE (FACE ACTIVE) & DEPOSE
            Equipements de pose de film & dépose
            Accessoires & Options pour équipements de pose / dépose de films
      E - MEULES DE POLISSAGE POUR PLAQUETTES
   3 - INSPECTION VISUELLE & APPAREILS OPTIQUES
      Microscopes & Binoculaires
      Objectifs et oculaires
      Accessoires
            Caméras
   4 - TESTS SOUS POINTES DE MICRO-STRUCTURES
      A - STATIONS DE TEST SOUS POINTES POUR ANALYSE ET CARACTERISATION
            Stations d'usage général (validation design, analyse défaillances, petite production...)
            Stations RF & MICROWAVE (et spécifiques MEMs...)
      B - ACCESSOIRES POUR STATIONS DE TESTS
            Microscopes & Binoculaires
            Tables antivibration
            Micropositionneurs de précision
            Micro-tools (Tests de MEMs, biologie...)
            Porte-pointes de tests
            Pointes de tests passives
            Pointes spécifiques (Actives-Coaxiales-Kelvin..)
            Chucks thermiques - Caractérisation en température
            Lasers enlèvement métal et couches
            Autres accessoires divers
                        Pompes à vide & compresseurs
            Accessoires spécifiques pour applications RF& Microwave
                        Micropositionneur spécifique pour tête RF
                        Pointes coplanaires RF-Microondes
                        Câbles RF & microwave
      C - CARTES A POINTES HAUTE DENSITE EPOXY & VERTICALES
      D - FEUILLES DE NETTOYAGE POUR CARTES A POINTES
   5 - DECOUPE DES PLAQUETTES SILICIUM ET AUTRES SUBSTRATS
      A - EQUIPEMENT - MACHINE DE DECOUPE
      B - FILMS ADHESIFS POUR MAINTIEN DES PLAQUETTES & SUBSTRATS
            Films adhésifs standard
            Films avec adhésif sensible aux UV
      C - MONTAGE DES PLAQUETTES SUR FILM/FRAME
            Equipements de montage
            Accessoires & Options
      D - DISQUE DIAMANTE POUR DECOUPE DE TOUS MATERIAUX FINS
            Disque nécessitant un flasque de montage
            Disque (lame) incluant le flasque prêt à l'emploi
      E - INSOLATEURS DE FILM ULTRAVIOLET
            Equipements d'insolation UV
            Lampes manuelles UV
            Accessoires & Options
      F - EXPANSION DU FILM APRES DECOUPE
      G - BROSSAGE PLAQUETTES APRES DECOUPE
      H - ACCESSOIRES LIES A LA DECOUPE
            Anneaux plastique & Cadres métalliques
            Flasques de montage pour lame de découpe annulaire
            Autres accessoires liés à la découpe
   6 - TESTS DE COMPOSANTS & RODAGE (BURN IN)
      A - SUPPORTS (SOCKETS) STANDARD DE TESTS ET DE BURN IN
            Pour boitiers BGA/CSP, LGA
            Pour boitiers QFN
            Sockets spéciaux pour boitiers forte dissipation
            Sockets pour boitiers Axiaux-radiaux & MELF
            Sockets pour boitiers TO, SIP, DIP
            LCC, FlatPack, SMD, Micro-ondes & Hybrides
            Sockets ZigZag & Alternés
            Sockets pour boitiers PLCC/SOJ & "Gull Wing"
            Boitiers Opto & PGA
            Connecteurs
      B - CARTES BURN IN - HUMIDITE & AUTOCLAVE
            NOUVEAU : SONDE DE TEST DE SOCKET/CARTE BURN IN
      C - POINTES DE TEST A RESSORT
      D - CARTES INTERFACE DE TESTS
      E - INSTRUMENTATION & LOGICIELS
   7 - MANIPULATION DES COMPOSANTS & CONDITIONNEMENT
      Micro-manipulation & Micro-tools
   8 - SERVICES DE SOUS-TRAITANCE PROTOTYPES
 
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