Paul a rejoint notre équipe de vente avec une spécialisation en matériaux et technologies des semi-conducteurs, bienvenue Paul

Notre famille de produits 1 : Equipements et accessoires pour caractérisation électrique des matériaux semi-conducteurs

De nouveau produits arrivent : Conditionneur thermique pour test en température, appareil 4 pointes avec logiciel évolutif…

Nos prochains salons/exhibitions : EMRS Nice 27 au 31 Mai, EuMW 2019 European Microwave Week, Paris 1-3 Octobre

CatalogueMATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCES Appareils de mesure par contact Mercure

Appareils de mesure par contact Mercure

Les appareils de la série CVMap permettent de mesurer-caractériser-monitorer un grand nombre de paramètres sur les matériaux semi-conducteurs sur la qualité des procédés eux-mêmes

Acceptent des plaquettes de toute taille jusqu'à 300 mm
Chargement manuel ou automatique
Modèles spécifiques à 3 points de contact pour matériaux à substrats isolants (SOI..)
Appareils combinés mesure de résistivité et mesures C(V) permettant de caractériser les USJ (Ultra-Shallow Junction)

Le contact Mercure permet de s'affranchir des dommages causés par des pointes et de mesurer ainsi sur des couches sensibles

DEMANDE D'INFORMATIONS

CVM92M

Appareil manuel C-V contact mercure

Appareil C(V) manuel à contact mercure pour caractérisation de wafers et substrats jusqu'à 200mm Chargement manuel de l'échantillon, Mesure automatiquePermet de Mesurer & Caractériser & Monitorer un grand nombre de paramètres sur les matériaux semi-conducteurs et la qualité des procédés eux-mêmes ...

Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

Catégories de produits

STATIONS DE TEST SOUS POINTES

ACCESSOIRES POUR STATIONS DE TEST

POINTES ET SONDES DE TEST

MATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCES

PRODUITS POUR TEST ET BURN IN DES COMPOSANTS

MACHINES DE DECOUPE ET PROCEDES ASSOCIES

CONSOMMABLES LIES A LA DECOUPE

Applications

CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES

CONTRÔLE D'INSTRUMENTATION