Nouveau : Mesure d’effet Hall avec électro-aimant
Nouveau : Four de température de type étuve pour stockage ou pour burn in de composants
Une offre complète de sockets de test pour toute application, en version standard ou sur mesure

CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES

Nous présentons ici diverses techniques éprouvées de caractérisation • Mesures 4 pointes • Mesures effet Hall (loi de Van Der Pauw) • Caractérisation par contact mercure, particulièrement utile pour des couches fragiles et des matériaux spécifiques (SOI...) Parmi nos applications associées se trouve également la croissance de couche semi-conductrice par RTP

Demande d’information sur : CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES

Conformément à la loi « informatique et libertés » du 6 janvier 1978 modifiée en 2004, vous bénéficiez d’un droit d’accès et de rectification aux informations qui vous concernent, que vous pouvez exercer en vous adressant à Microworld - 5 Rue de la Verrerie, 38120 Fontanil-Cornillon - Tél. : 04 76 56 16 17

Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

5 rue de la Verrerie

38120 Le Fontanil-Cornillon

Grenoble / France

Fax : +33(0) 476 757 484

RCS Grenoble B 381 001 171 - APE 4652Z

TVA FR 48 381 001 171