CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES

Nous présentons ici diverses techniques éprouvées de caractérisation • Mesures 4 pointes • Mesures effet Hall (loi de Van Der Pauw) • Caractérisation par contact mercure, particulièrement utile pour des couches fragiles et des matériaux spécifiques (SOI...) Parmi nos applications associées se trouve également la croissance de couche semi-conductrice par RTP

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