Vincent notre nouvel assistant de Ventes nous a rejoint en Septembre 2017, Welcome aboard Vincent !!!
Nos supports de test et burn in (sockets) sont disponibles pour tous les boitiers récents ou anciens, nous consultez avec un plan de votre composant

CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES

Nous présentons ici diverses techniques éprouvées de caractérisation • Mesures 4 pointes • Mesures effet Hall (loi de Van Der Pauw) • Caractérisation par contact mercure, particulièrement utile pour des couches fragiles et des matériaux spécifiques (SOI...) Parmi nos applications associées se trouve également la croissance de couche semi-conductrice par RTP

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