La gamme de contrôleurs de températures associés à un plateau de réception d'échantillon (wafer) adapté permet de répondre à la majorité des applications de caractérisation sous pointes et en température • Modèle chauffant uniquement, de l'ambiante à 300°C ou plus • Modèle tri-temp pour des tests en chaud-froid • Version avec rampe permettant de régler des paliers de température • Option triax, contrôle externe GPIB...
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