S302-x      Stand de mesure 4 pointes

Description Spécifications techniques Documents Produits associés
Description Spécifications techniques Documents Produits associés

Description

Le système de base se compose d'une potence de maintien de la tête de tests avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer de 4, 6 ou 8 pouces. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture ou pas
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats.
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche...dans le domaine caractérisation de matériaux.

DOCUMENTS

Spécifications techniques

Taille du wafer

Gamme de résistivité

Type de mouvement

Compatibilité

Connexion

Logiciel

SMU

100, 150, 200 ou 300

1 mohm/sq à 800 Kohm/sq

Manuel

SP4 - HT4 - HR4

4 bananes

Non

Non

Produits associés

SP4-xx - Tête de mesures 4 pointes
Tête 4 pointes pour température ambiante, utilisable sur équipements de la série Pro4 et Quadpro et séparément.

• Matériau des pointes défini selon application & Type de couche
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes,
• Terminaisons : Fils volants, fiches banane, BNC, câbles triaxiaux, connecteur 9 broches...
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

5 rue de la Verrerie

38120 Le Fontanil-Cornillon

Grenoble / France

Fax : +33(0) 476 757 484

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