Nouveau : Mesure d’effet Hall avec électro-aimant
Nouveau : Four de température de type étuve pour stockage ou pour burn in de composants
Une offre complète de sockets de test pour toute application, en version standard ou sur mesure

H1xx      Station de tests manuelle économique

H1xx      Station de tests manuelle économique

Images Produit Spécifications techniques Produits associés

Spécifications techniques

Station de tests sous pointes disponible en 3 versions différenciées par la façon de positionner le chuck et la précision associée

  • Déplacement X - Y de 100mm
  • Système de levée rapide du plateau
  • Jusqu'à 6 micropositionneurs et une carte à pointes

Références courantes

  • H-100 : Déplacement manuel du chuck
  • H-120 : Déplacement manuel + molettes X-Y
  • H-150 : Déplacements de précision par molettes

Taille wafer

Puce individuelle, wafer partiel, 100 mm max

Plateau

Acier pour micropositionneurs à vide ou magnétique

Déplacement max X

100 mm

Déplacement max Y

100 mm

Equipement

Evolutif avec adaptateur de carte à pointes, chuck en 8“ et avec chuck chauffant

Fonctions

Réglage hauteur du plateau

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