Elles permettent de tester sous pointes tout type de puce unitaire ou une série de puces sur plaquette entière ou partielle jusqu'à 300mm de diamètre. • Mouvement manuel du plateau (chuck) et du microscope par molette • Modèle entrée de gamme, économique multi-applications ou submicronique haute précision • Configuration spécifique faible courant, forte puissance • Configurable et upgradable avec choix d'options, chuck chauffant, triaxial, boite noire... • Disponibles en version standard ou haute-fréquence
Stations économiques pour puces ou plaquettes jusqu'à 200mm pour géométries de motifs à partir de quelques microns • Disponible pour application standard manuelles et pour application RF • Elles peuvent recevoir un microscope de type bino ou high power à tourelles • Jusqu'à 10 positionneurs avec base à vide ou magnétique • Acceptent chuck chauffant et chaud-froid
Station manuelle multi-applications
S1160-x
Station manuelle multi-applications
Station pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants... Modulaire, la S1...
Station manuelle RF
WL1160-x
Station manuelle RF
Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon applicat...
Station de tests manuelle économique
H1xx
Station de tests manuelle économique
Une gamme de stations de précision pour test sur plots ou sur lignes internes de faible dimension, accepte puce individuelle, plaquette partielle ou entière jusqu'à 300mm. • Base massive haute stabilité pour un niveau de vibrations minimum sur table antivibratoire • Configurations de plateau à vide standard, triax, chauffant, chaud/froid... • Microscope intégrée type à tourelle ou mono-objectif • Accepte micropositionneurs haut de gamme • Configurations sur mesure selon cahier des charges
Station haute stabilité DC (CM170) ou RF (WL170)
CM170/WL170
Station haute stabilité DC (CM170) ou RF (WL170)
Issue de la combinaison de deux stations précises la CM210/WL210 submicronique et la S1160/WL1160 économique, la sta...
Station checkmate submicronique
CM210/310
Station checkmate submicronique
Station manuelle avec chambre locale
WL210e/310e
Station manuelle avec chambre locale
Station RF Wavelink submicronique
WL210/310
Station RF Wavelink submicronique
Pour test sous pointes et sous vide sur échantillon de taille max 100mm • Température variable de 80K à 573k • Vide jusqu'à 8 10-3 Torr • Accepte jusqu'à 4 micropositionneurs
Station de test sous vide
ETCP2000
Station de test sous vide
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

5 rue de la Verrerie

38120 Le Fontanil-Cornillon

Grenoble / France

Fax : +33(0) 476 757 484

RCS Grenoble B 381 001 171 - APE 4652Z

TVA FR 48 381 001 171