TF lab      Système par courant de Foucault 1 point

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

TF lab      Système par courant de Foucault 1 point

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

Référence

TF lab

Désignation

Système par courant de Foucault 1 point

Description

La série TF lab 2020 permet des mesures manuelles ponctuelles de couches minces conductrices et la mesure de l'épaisseur de couches métalliques minces en mode sans contact.
L'appareil de table compact est idéal pour les mesures rapides et précises d'échantillons jusqu'à 200 x 200 mm² (8 x 8 pouces).
En plus de la mesure des couches conductrices minces, des wafer dopées et des polymères conducteurs peuvent également être analysés

Applications :

- Verre architectural revêtu
- Verre électrochrome intelligent, Smart Glass
- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs

Spécifications techniques

Taille du wafer

10x10 à 200x200 mm2

Gamme de résistivité

0.001 à 1000 Ohm/sq

Type de mouvement

Fixe

Logiciel

Inclus

SMU

Interne

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