333A      Système de mesure 4 pointes semi-automatique

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

333A      Système de mesure 4 pointes semi-automatique

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

Référence

333A

Désignation

Système de mesure 4 pointes semi-automatique

Description

Gamme de mesure de 1 mohm/sq à 8E5ohm/sq, mesures 1pt, 5 pts ou cartographie pour ces systèmes semi-automatiques, cartographie et analyse jusqu'à 6000 points jusqu'au wafer 300mm.

- Gamme de mesure standard et étendue, stockage et récupération des valeurs de mesure, fonctions de recherche de résultats évoluées
- Cartographies de mesure polaires ou rectangulaires, jusqu'à 650 points de mesure, scan de diamètre, sites de tests "custom"
- Compensation d'effet de bord, détection automatique de la polarité...
- Ces appareils permettent de répondre à tous les besoins en terme de qualification de résistance de couche, que ce soit en R&D et manuel ou en mode production

Spécifications techniques

Taille du wafer

200 ou 300 mm

Type de mouvement

Semi-automatique (Y et Théta)

Compatibilité

Tête CP4

Logiciel

Gestion de la mesure "auto range", mapping, analyse des résultats, courbe 3D

SMU

Interne

Ordinateur

Windows10 Pro inclus

Produits associés

CW - Wafer de calibration
Wafer permettant de calibrer un système 4 pointes

- Wafer Silicium
- Diamètre 4 pouces (100 mm)


CP4 - Tête de mesures 4 pointes cylindrique
Tête 4 pointes pour mesure de résistivité utilisable sur équipements de la série 280 ou séparément, espacements de pointes standard 1 mm.

- Pointes avec pression ajustable
- Finesse de bout des pointes (tip radius) adaptée à la plupart des couches électroniques
- Livrée avec connecteur 9 broches pour câblage direct
- Utilisation température ambiante uniquement.
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

5 rue de la Verrerie

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