HMS5300      Système de mesure par Effet Hall hautes températures (semi-automatique)

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

HMS5300      Système de mesure par Effet Hall hautes températures (semi-automatique)

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

Référence

HMS5300

Désignation

Système de mesure par Effet Hall hautes températures (semi-automatique)

Description

Le modèle HMS5300 est un complément au système HMS5000 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 570K

Le HMS5300 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.

Références courantes

  • HMS5300-RTSK : Pour température ambiante et 77K
  • HMS5300-AMP55T : Avec module température de 77K à 350K
  • HMS5300-AHT55T3 : Avec module température de 350K à 570K
  • HMS5300-AMP55T-AHT55T3 : Avec modules température de 77K à 350K et 350K à 570K

DOCUMENTS

Spécifications techniques

Taille de l'échantillon

5x5 à 25x25 mm

Puissance aimant

0.55 T

Type d'aimant

Permanent en néodyme

Gamme de température

77K à 570K, selon modèle

Gamme de résistivité

10E-4 à 10E7 Ohm.cm

Gamme de concentration

10E7 à 10E21 cm-3

Gamme de mobilité

1 à 10E7 cm2/Vs

Logiciel

Test de contact, mesure, calcul des paramètres, export, température

Produits associés

SPCB - Porte-échantillon pour systèmes HMS
Ce porte-échantillon "rapide" est composé d'une carte PCB sur laquelle se fixent par clip l'échantillon à analyser (max 25x25mm excepté HMS3000 65x65mm).

- Quatre pointes à ressort plaquées or permettent le contact sur les cotés de l'échantillon (dans certains cas une goutte de soudure d'indium sera déposée en plus, selon le type de matériau)
- Montage sans soudure
HMS5000 - Système de mesure par Effet Hall en température (semi-automatique)
Le modèle HMS5000 permet de caractériser un grand nombre d'échantillons possédant une couche semi-conductrice accessible par la méthode Van Der Pauw.
Cet appareil à source de courant constante et aimant permanent permet la mesure sur des couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires... de paramètres tels que résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

La configuration de base inclut :

- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation et contact sur l'échantillon par clip rapide
- Mesure en température

Le HMS5000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs à 350K et 77K (température de l'azote liquide).
HMS5500 - Système de mesure par Effet Hall très hautes températures (semi-automatique)
Le modèle HMS5500 est un complément aux systèmes HMS5000-5300 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...


- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 770K

Le HMS5500 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.
HMS7000 - Système de mesure Photonique par Effet Hall en température
Le modèle HMS7000 permet de mesurer divers paramètres en utilisant la mesure par Effet Hall, en fonction d'une longueur d'onde (RGB).
ll utilise la méthode Van Der Pauw et permet de caractériser les couches semi-conductrices, compound, cellules solaires...


Sont inclus :

- Logiciel + traçage de courbe I-V, R-V pour vérification des contacts ohmiques
- Socle aimant permanent 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide
- Gestion de la température
- Option illumination LED RGB
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