Système de mesure non destructif

MATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCES - Système de mesure non destructif

Courant de Foucault
La méthode de test par courants de Foucault utilise des variations de conductivité locales pour la caractérisation des caractéristiques telles que l'épaisseur, la résistance de la couche, l'homogénéité du matériau ou d'autres changements physiques dans l'échantillon.
Le signal de courant de Foucault complexe contient diverses informations sur le matériau de test, qui peuvent être séparées dans de nombreux cas avec des algorithmes simples ou complexes.
L'électronique à courants de Foucault puissante appliquée offre une large gamme de fréquences de 10 kHz à 100 MHz qui est utilisée pour atteindre différentes sensibilités et profondeur de pénétration en fonction de l'application.
Tous nos produits sont proposés avec un logiciel convivial pour une évaluation rapide en temps réel.
TF lab
Système de caractérisation sans contact par courant de Foucault 1 point
Système de caractérisation sans contact par courant de Foucault 1 point
La série TF lab 2020 permet des mesures manuelles ponctuelles de couches minces conductrices et la mesure de l'épaisseur de couches métalliques minces en mode sans contact.
L'appareil de table compact est idéal pour les mesures rapides et précises d'échantillons jusqu'à 200 x 200 mm² (8 x 8 pouces).
En plus de la mesure des couches conductrices minces, des wafer dopées et des polymères conducteurs peuvent également être analysés

Applications :

- Verre architectural revêtu
- Verre électrochrome intelligent, Smart Glass
- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
TF map 2525SR
Système de caractérisation sans contact par courant de Foucault semi-automatique
Système de caractérisation sans contact par courant de Foucault semi-automatique
La série TF map 2525 mesure automatiquement la résistance de couche de grands échantillons jusqu'à 254 x 254 mm² (10 x 10 pouces) en mode sans contact.
Après un positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement une cartographie précise de la résistance de la couche sur toute la zone de l'échantillon.
Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 1 000 000 points de mesure.

Avantages de ce système :

- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure
TF map 2530
Système de caractérisation sans contact par courant de Foucault semi-automatique
Système de caractérisation sans contact par courant de Foucault semi-automatique
La série TF map 2530 mesure automatiquement la résistance de couche de grands échantillons jusqu'à 300 x 300 mm² (12 x 12 pouces) en mode sans contact.
Après un positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement une cartographie précise de la résistance de la couche sur toute la zone de l'échantillon.
Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 1 000 000 points de mesure.

Avantages de ce système :

- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure
TF portable
Système de caractérisation sans contact par courant de Foucault portable
Système de caractérisation sans contact par courant de Foucault portable
Le système TF portable 1010 est un appareil de mesure compact et portable pour la mesure de résistivité sur de grandes surfaces. Il permet de caractériser par contact rapide de grandes plaques conductrices. Le système utilise la méthode des courants de Foucault, appelés aussi Eddy current. Cette méthode permet de faire des mesures non destructives. Il est possible de mesurer des échantillons et composants encapsulés. Les courants de Foucoult pénètrent les couches non conductrices tel que les oxydes de surface ou tout autre revêtement.

C'est un appareil facile à utiliser qui est contrôlé via un écran tactile.

Il est possible de mesurer les surfaces suivantes :

- Verre à faible émission
- Verre électrochrome intelligent
- Revêtement miroir
- Couche réfléchissante
- Film conducteur
- couche d'électrodes
- Electrodes de batterie
- Papier conducteur
- Textile conducteur


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