SRS3      Wafer de calibration

Description Spécifications techniques Documents Produits associés
Description Spécifications techniques Documents Produits associés

Description

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes

• Certification NIST valable 1 an

DOCUMENTS

Spécifications techniques

Gamme de résistivité

Taille du wafer

Matériau

Epaisseur

Durée de certification

0,002 à 3 Ohm.cm

76,2

Silicium

508 µm

1 an

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