Activité / Expertises
Produits
CARACTERISATION DE COUCHES
Systèmes de mesures 4 pointes
Systèmes manuels
Systèmes semi-automatiques
Systèmes portables
Têtes de mesure 4 pointes
Wafers de calibration
Systèmes de mesures par Effet Hall
Systèmes standards
Systèmes spécifiques
Porte-échantillons
Systèmes de mesures non destructif
Systèmes manuels
Systèmes semi-automatiques
Systèmes portables
Systèmes d'analyse de matériaux
Profilomètres optiques
Testeurs mécaniques
Tribomètres
Ellipsomètre
Systèmes de mesures par contact Mercure
Platines chauffantes
Fours de recuit rapide (RTP)
TEST SOUS POINTES
Stations de tests sous pointes
Stations manuelles
Stations semi-automatiques
Stations compactes en température
Accessoires de tests
Boites noires
Caméras
Chucks spécifiques
Chucks thermiques
Logiciels de mesures
Micropositionneurs
Microscopes
Porte-pointes
Tables antivibratoires
Pointes et sondes de tests
Pointes passives
Sondes RF et millimétriques
Pointes coaxiales et Kelvin
Sondes multicontacts
Sondes actives
Cartes à pointes
Accessoires (Alim, calibration, nettoyage)
PROCEDES BACK-END
Machines d'encollage de wafers sur film
Machines de découpe
Scribers
Machines d'expansion de film
Machines d'insolation UV
Die Bonders
Wire Bonders
Imprimantes 3D industrielles de circuits imprimés
Consommables pour back-end
Films adhésifs
Disques de découpe diamantés
Cadres métalliques et frames
Anneaux plastiques
Accessoires de salle blanche
Transport et stockage
Outils de manipulation
Nettoyage
TESTS ET BURN IN DES COMPOSANTS
Sockets de test et burn in
Cartes de burn in
Applications
CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES
Mesures 4 pointes
Mesures manuelles 1 ou quelques points
Automatique avec cartographie
Mesures d'effet Hall et autres paramètres
Mesures par contact Mercure
Epaisseur oxyde, low K high K...
Croissance de couche électronique par RTP (Rapid Thermal Processor)
CONTRÔLE D'INSTRUMENTATION
Logiciels de contrôle d'instruments
TESTS SOUS POINTES
Mesures IV/CV & Analyse de défaillance
Tests à très faible courant
Mesures en forte puissance
Test sous pointes en gamme HF & Microwave
Mesures sous pointes et sous vide
Carte à pointes & Mapping
TESTS ELECTRIQUES DE COMPOSANTS EN BOITIER
Test d'un nouveau composant en boitier
Burn in de composants pour tests de fiabilité
Accès à la puce d'un composant en boitier
Test sous pointes d'un substrat non plat
DECOUPE DES SUBSTRATS SEMI-CONDUCTEURS
Encollage de film sur plaquette et frame
Expansion de film après découpe
Découpe de wafers et autres matériaux
Insolation de film UV après découpe
Contact
CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES
Mesures par contact Mercure
Epaisseur oxyde, low K high K...
DEMANDE D'INFORMATIONS
A PROPOS : Epaisseur oxyde, low K high K...
La caractérisation par appareil à contact mercure permet de mesurer et monitorer un grand nombre de paramètres
• Intégrité oxyde et épaisseur
• Détermination low K High K
• Densité de porteurs sur couche EPI et implantée
• ...
