Système de mesure 4 pointes semi-automatique

QUADPRO2ASystème de mesure 4 pointes semi-automatique

Système semi-automatique de mesure 4 pointes en ligne en température sur échantillon allant de 10mm à 300mm de diamètre. Capable de mesurer des gammes de résistance de surface de 10μΩ/sq à 10GΩ/sq. Plusieurs versions possibles pour optimiser la précision sur la mesure en fonction des gammes testées.

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Rapports Moyenne, Écart-type, Minimum, Maximum et 3Sigma pour l'ensemble de données
• Mesures du coefficient de température de résistance (TCR)
• Cartographie 2D automatisée, cartographie 3D et coupe transversale
• Ultra haute précision et répétabilité
• Cartographie comparative

L'option TCR

L'option Coefficient de température de résistance intègre le contrôle de la température de l'échantillon ainsi que le contrôle automatisé du courant injecté et les calculs de résistance.
Intégré à un système de chuck thermique, le test balaie automatiquement les températures sur une large gamme sans déplacer les pointes de test. Les mesures sont prises à chaque températures cibles et les résultats sont tracés sur un graphique. Le TCR est exprimé en parties par million (PPM).
Les utilisateurs définissent la plage de température, les paliers, et le delay pour chaque point de test avant d'effectuer une mesure. Une variété de chuck thermiques sont disponibles pour définir la plage et la résolution allant de la température ambiante à 300°C, avec une résolution de 1°.
Les données peuvent être imprimées ou exportées vers une feuille de calcul pour une analyse plus approfondie.



Wafer de calibration 3" certifié NIST

SRS3Wafer de calibration 3" certifié NIST

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

• Wafer 3" (75mm)
• Certification NIST valable 1 an
Wafer de calibration 8"

SRS8Wafer de calibration 8"

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

• Wafer 8" (200mm)
• Certification NIST valable 1 an
Wafer de calibration 12"

SRS12Wafer de calibration 12"

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

• Wafer 12" (300mm)
• Certification NIST valable 1 an
Tête de mesures 4 pointes

SP4Tête de mesures 4 pointes

Tête 4 pointes pour température ambiante, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en delrin avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon application & type de couche
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, fiches banane, BNC, câbles triaxiaux, connecteur 9 broches...
Tête de mesures 4 pointes haute température

HT4Tête de mesures 4 pointes haute température

Tête 4 pointes pour haute température et haute résistivité, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en macor avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon type de couche à mesurer
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, Banana jacks, Triax...
A PROPOS : Automatique avec cartographie
Mesurer la résistivité de surface sur une plaquette entière ou partielle, afficher une cartographie (mapping) et des paramètres moyenne écart-type...avec des graphes 3D.
• Permet de connaitre l'homogénéité de résultats ou la dispersion sur une surface semi-conductrice ainsi que les moyennes des valeurs et écart-type
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial.
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