TEST SOUS POINTESStations de tests sous pointes

H150Station de test sous pointes manuelle 4"

Station de tests sous pointes facile à utiliser pour wafers jusqu'à 100mm.

- Déplacement du chuck XY
- Système de levée rapide du plateau
- Accepte jusqu'à 6 micropositionneurs ou carte à pointes
- Support microscope fixe

S1160B-8NStation de test sous pointes manuelle 8"

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

WL1160B-8NStation de test sous pointes RF manuelle 8"

Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application.

- Mesures DC jusqu'à 110 GHz
- Base massive pour une meilleure stabilité
- Chuck anti-résonnant
- Chuck pour substrat de calibration indépendant en rotation
- Levée rapide et réglage fin du plateau
- Microscope binoculaire / trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)
- Accepte jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

REFERENCES COURANTES

WL1160A : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
WL1160B : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
WL1160C : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

CM170Station de test sous pointes manuelle haute stabilité

Issue de la combinaison de deux modèles, la station CM170 assure stabilité et précision pour un prix modéré.

- Large plateau permettant d'accueillir des têtes millimétriques
- Applications multiples (optique, carte à pointes, HF...)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM170 : mesures DC à 100 MHz
WL170 : mesures DC à 110 GHz
WL170-THz : mmW jusqu'à 1.1 THz (chuck surélevé)

WL170-THzStation de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

Station spécialement conçue pour les applications ultra hautes fréquences, avec l'utilisation de têtes millimétriques (extenders).
Ce système permet de monter un micropositionneur avec un large plateau pouvant supporter les extenders des principaux fabricants (R&S, VDI...).

- Jusqu'à 1,1 Thz
- Chuck réhaussé
- Blocage en rotation
- Microscope à longue distance de travail

CM210Station de test sous pointes manuelle haute précision 8"

La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à +300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm

WL210Station de test sous pointes RF manuelle haute précision 8"

La série WaveLink représente les stations de tests sous pointes HF les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Non résonance de l'ensemble jusqu'à 500 GHz
- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Caractérisation en température optionnelle (-60°C à +300°C)
- Peut accueillir jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

RÉFÉRENCES COURANTES

WL210 : Version 200 mm
WL310 : Version 300 mm

WL210LEStation de test sous pointes RF manuelle haute précision 8" avec chambre locale

Cette station de test sous pointes est dérivée de la gamme Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesures en températures (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant.

- Mesures fA (faibles courants)
- Isolation lumineuse
- Blindage électrique
- Configurations : 4 ports HF ou 8 ports DC/Kelvin ou combinaison HF/DC
- Existe en 300mm
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à +300°C)

FixtureBoxBoite noire pour mesures fortes puissances

Solution test fixture compacte pour mesures Haute-tensions (HV) et Fort-courants (HC)

- Mesures jusqu'à 10kV
- Compatibilité Keithley et Keysight
- Interlock de sécurité

D3Boite noire avec chuck

Spécialement conçue pour la mesure en température, cette boite noire type ''valise'' est munie d'un chuck (ambiant ou chauffant) ainsi que d'un plateau rond permettant de positionner plusieurs micropositionneurs magnétiques.

- Un microscope peut-être utilisé pour des motifs plus petits
- Une solution particulièrement économique pour une variété d'applications de test

CM465Station de test sous pointes semi-automatique 6"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 150 mm (6'').

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Plateau X-Y piloté par moteur à induction linéaire et encodeur optique de grande précision
- Application sur cartes à pointes possible
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faibles courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production

CM250Station de test sous pointes semi-automatique 8"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à +600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à +300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm

WL250-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 8" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et +300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale

WL350-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 12" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et +300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale

WL250Station de test sous pointes semi-automatique HF 8"

CM350Station de test sous pointes semi-automatique 12"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à +600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à +300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm

HCP-600-G-PMStation de test compacte sous gaz

Mini Station de test pour des mesures en température et sous atmosphère contrôlée.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm. Elle vous permettra de faire vos mesures en température tout en envoyant un gaz neutre.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications:

• Mesures sur échantillons unitaire, taille 28x30 mm
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort.
• Gamme de température : -196°C à 600°C
• Injection de gaz neutre (Argon, Azote)

HP-1000-V-PS-50Station de test sous vide

Station de probing compacte pour mesures haute température sous vide.
Cette station complètement hermétique vous permettant de monter à 1000°C tout en mettant votre échantillon sous vide.
Les pointes en Rhenium de tungstène, très résistantes au haute température et fiables. Ces pointes peuvent être manipulées manuellement grâce à des micropositionneurs, ce qui facilite leur placement précis sur des plots dont la taille est supérieure ou égale à 10µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

• Mesures sur échantillons unitaire, 50x 50mm
• Positionnement manuel avec 4 micropositionneurs (Jusqu'à 7 micropositionneurs)
• Gamme de température : Ambiant à 1000°C
• Chambre étanche

HCP-400-V-PMStation de test compacte sous vide

Mini Station de test pour des mesures en température et sous vide.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

• Mesures sur échantillons unitaire, taille 28x30 mm
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort.
• Gamme de température : -196°C à 400°C
• Capacité de vide jusqu'à 1 mTorr

HCP-400-V-PMHStation de test compacte sous vide non magnétique

Mini Station de test pour des mesures en température, sous vide non magnétique.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm. Cette station amagnétique vous permettra de pouvoir effectuer des mesures avec des bobines de Helmholtz.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce
-Test sous champs magnétiques

Spécifications :

• Station pour effectuer des mesures sous vides à l'intérieur d'un système de bobines de Helmholtz
• Dimensions de la station 180 mm x 130 mm x 26.5 mm
• Mesures sur échantillons unitaire, taille 38x42 mm
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Chambre étanche au vide

HCP-400-V-MPSStation de test compacte sous vide

Mini Station de test conçue spécifiquement pour effectuer des mesures en température et sous vide.
Cette station est entièrement hermétique, ce qui lui permet de fournir un environnement de mesure contrôlé et stable. Grâce à cette station, vous bénéficiez d'une large gamme de possibilités pour vos expérimentations.
Les pointes utilisées dans cette station sont en Rhénium de tungstène, ce qui les rend très résistantes et fiables. Ces pointes peuvent être manipulées grâce à des micropositionneurs, ce qui facilite leur placement précis sur des plots dont la taille est supérieure ou égale à 10µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

• Mesures sur échantillons unitaire, taille 28x30 mm
• Positionnement manuel avec 4 micropositionneurs (Jusqu'à 7 micropositionneurs)
• Gamme de température : -196°C à 400°C
• Capacité de vide jusqu'à 1 mTorr

A PROPOS DE NOS Stations de tests sous pointes

Nos équipements de tests vous permettront de répondre à toutes les spécifications techniques simples comme exigeantes. Qu'elle que soit l'application, la caractérisation de puce, le débug, l'analyse de défaillance ou le développement de processus industriel et R&D. Les stations sous pointes manuelles et semi-automatiques sont à la fois polyvalentes, précises. De la mesure standard à la mesure d'hyperfréquence ou bien haute température pour répondre aux exigences de la microélectronique.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Test RF : Antenne, réseauteur ...
- Circuit imprimé (Analyse de défaillance)
- Nanomatériaux
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium

Spécifications :

• Mesures IV et CV
• Mesures HV (10KV)
• Mesures faibles courant fA
• Mesures hyperfréquences (1THz millimétrique)
• Chuck thermiques (chaud/froid : -196°C à 1000°C)
• Microscopie
• Isolation lumineuse et vibrations
• Pointes et sondes de tests
• Micropositionneurs dédiés pour chaque application