Permet de mesurer la résistivité de surface de couche électronique soit de manière manuelle (positionnement de la tête et séquence de test) soit automatiquement sur des plaquettes ou substrats de différentes tailles
• Choix d'équipements d'entrée de gamme à automatiques avec cartographie
• Grand choix de têtes 4 pointes pour tous types de matériaux
• Option de mesure en température
S302-x
Stand de mesure 4 pointes
Stand de mesure 4 pointes
Le système de base se compose d'une potence de maintien de la tête de tests avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer de 4, 6 ou 8 pouces. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture ou pas
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats.
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche...dans le domaine caractérisation de matériaux.

280I
Système de mesure 4 pointes semi-automatique
Système de mesure 4 pointes semi-automatique
Gamme de mesure de 1 mohm à 8E11ohm/carré, mesures 1pt, 5 pts ou cartographie pour ce système semi-automatique, cartographie et analyse jusqu'à 6000 points.

• Gamme de mesure standard et étendue, stockage et récupération des valeurs de mesure, fonctions de recherche de résultats évoluées
• Cartographies de mesure polaires ou rectangulaires, jusqu'à 650 points de mesure, scan de diamètre, sites de tests "custom"
• Compensation d'effet de bord, détection automatique de la polarité...
• Ces appareils permettent de répondre à tous les besoins en terme de qualification de résistance de couche, que ce soit en R&D et manuel ou en mode production
QUADPRO
Système de mesure 4 pointes semi-automatique évolutif
Système de mesure 4 pointes semi-automatique évolutif
Ce système est un dérivé du système de mesure PRO4 dans une version semi-automatique (ou manuel) et pour diverses gammes de résistivité, faible et haute résistivité (jusqu'à 10 Gohm/sq).

• Un contrôleur en température et un logiciel optionnel permet une gestion du coefficient TCR
• Adapté aux applications Recherches sur matériaux semi-conducteurs


SRS3
Wafer de calibration
Wafer de calibration
Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes

• Certification NIST valable 1 an
SP4-xx
Tête de mesures 4 pointes
Tête de mesures 4 pointes
Tête 4 pointes pour température ambiante, utilisable sur équipements de la série Pro4 et Quadpro et séparément.

• Matériau des pointes défini selon application & Type de couche
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes,
• Terminaisons : Fils volants, fiches banane, BNC, câbles triaxiaux, connecteur 9 broches...
CP4-xxx
Tête de mesures 4 pointes cylindrique
Tête de mesures 4 pointes cylindrique
Tête 4 pointes pour mesure de résistivité utilisable sur équipements de la série 280 ou séparément, espacements de pointes standard 1 mm

• Pointes avec pression ajustable
• Finesse de bout des pointes (tip radius) daptée à la plupart des couches électroniques
• Livrée avec connecteur 9 broches pour câblage direct
• Utilisation température ambiante uniquement.
HT4-xx
Tête de mesures 4 pointes haute température
Tête de mesures 4 pointes haute température
Tête 4 pointes pour haute température, utilisable sur équipements de la série Pro4 et Quadpro et séparément.

• Matériau des pointes défini selon type de couche à mesurer
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, Banana jacks, Triax, Connecteur...
• Option câblage haute résistivité
Mesure de la résistivité de surface d'un matériau semi-conducteur en un point ou jusqu'à 5 points (avec déplacement manuel)
• Utilise une potence et une tête 4 pointes dans une gamme de plusieurs modèles
• Système évolutif
SP4-xx
Tête de mesures 4 pointes
Tête de mesures 4 pointes
Tête 4 pointes pour température ambiante, utilisable sur équipements de la série Pro4 et Quadpro et séparément.

• Matériau des pointes défini selon application & Type de couche
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes,
• Terminaisons : Fils volants, fiches banane, BNC, câbles triaxiaux, connecteur 9 broches...
S302-x
Stand de mesure 4 pointes
Stand de mesure 4 pointes
Le système de base se compose d'une potence de maintien de la tête de tests avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer de 4, 6 ou 8 pouces. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture ou pas
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats.
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche...dans le domaine caractérisation de matériaux.

SRS3
Wafer de calibration
Wafer de calibration
Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes

• Certification NIST valable 1 an
HT4-xx
Tête de mesures 4 pointes haute température
Tête de mesures 4 pointes haute température
Tête 4 pointes pour haute température, utilisable sur équipements de la série Pro4 et Quadpro et séparément.

• Matériau des pointes défini selon type de couche à mesurer
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, Banana jacks, Triax, Connecteur...
• Option câblage haute résistivité
CP4-xxx
Tête de mesures 4 pointes cylindrique
Tête de mesures 4 pointes cylindrique
Tête 4 pointes pour mesure de résistivité utilisable sur équipements de la série 280 ou séparément, espacements de pointes standard 1 mm

• Pointes avec pression ajustable
• Finesse de bout des pointes (tip radius) daptée à la plupart des couches électroniques
• Livrée avec connecteur 9 broches pour câblage direct
• Utilisation température ambiante uniquement.
Mesurer la résistivité de surface sur une plaquette entière ou partielle, afficher une cartographie (mapping) et des paramètres moyenne écart-type...avec des graphes 3D.
• Permet de connaitre l'homogénéité de résultats ou la dispersion sur une surface semi-conductrice ainsi que les moyennes des valeurs et écart-type
SP4-xx
Tête de mesures 4 pointes
Tête de mesures 4 pointes
Tête 4 pointes pour température ambiante, utilisable sur équipements de la série Pro4 et Quadpro et séparément.

• Matériau des pointes défini selon application & Type de couche
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes,
• Terminaisons : Fils volants, fiches banane, BNC, câbles triaxiaux, connecteur 9 broches...
QUADPRO
Système de mesure 4 pointes semi-automatique évolutif
Système de mesure 4 pointes semi-automatique évolutif
Ce système est un dérivé du système de mesure PRO4 dans une version semi-automatique (ou manuel) et pour diverses gammes de résistivité, faible et haute résistivité (jusqu'à 10 Gohm/sq).

• Un contrôleur en température et un logiciel optionnel permet une gestion du coefficient TCR
• Adapté aux applications Recherches sur matériaux semi-conducteurs


280I
Système de mesure 4 pointes semi-automatique
Système de mesure 4 pointes semi-automatique
Gamme de mesure de 1 mohm à 8E11ohm/carré, mesures 1pt, 5 pts ou cartographie pour ce système semi-automatique, cartographie et analyse jusqu'à 6000 points.

• Gamme de mesure standard et étendue, stockage et récupération des valeurs de mesure, fonctions de recherche de résultats évoluées
• Cartographies de mesure polaires ou rectangulaires, jusqu'à 650 points de mesure, scan de diamètre, sites de tests "custom"
• Compensation d'effet de bord, détection automatique de la polarité...
• Ces appareils permettent de répondre à tous les besoins en terme de qualification de résistance de couche, que ce soit en R&D et manuel ou en mode production
SRS3
Wafer de calibration
Wafer de calibration
Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes

• Certification NIST valable 1 an
HT4-xx
Tête de mesures 4 pointes haute température
Tête de mesures 4 pointes haute température
Tête 4 pointes pour haute température, utilisable sur équipements de la série Pro4 et Quadpro et séparément.

• Matériau des pointes défini selon type de couche à mesurer
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, Banana jacks, Triax, Connecteur...
• Option câblage haute résistivité
CP4-xxx
Tête de mesures 4 pointes cylindrique
Tête de mesures 4 pointes cylindrique
Tête 4 pointes pour mesure de résistivité utilisable sur équipements de la série 280 ou séparément, espacements de pointes standard 1 mm

• Pointes avec pression ajustable
• Finesse de bout des pointes (tip radius) daptée à la plupart des couches électroniques
• Livrée avec connecteur 9 broches pour câblage direct
• Utilisation température ambiante uniquement.
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

5 rue de la Verrerie

38120 Le Fontanil-Cornillon

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