Burn in de composants pour tests de fiabilité

Le burn in consiste à chauffer les composants (125°C, 150°C ou plus) afin d'en éliminer les défauts de jeunesse, ou de déterminer les plages de fonctionnement dans les spécifications extrêmes du compposant. Dans cette optique Microworld vous propose des supports de test (sockets) adaptés à vos composants et aux températures de burn in et optionnellement des cartes de burn in spécialement dessinées pour vos applications et vos matériels
SOKQFN
Socket de tests pour boitier QFN, DFN...
Socket de tests pour boitier QFN, DFN...
Socket de tests pour boitiers QFN, récents ou anciens, supports existant sur catalogue, développements semi-custom ou full custom.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature)
• Multiples options Kelvin, non-magnétiques, multi-positions, dissipation par radiateur...
• Plus de 1300 Designs, ClamShell ou Open Top, Kelvin ou non...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre.



SOKBGA
Socket de tests pour boitier BGA
Socket de tests pour boitier BGA
Supports de test pour tous boitiers BGA, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre


SOKLCC
Socket de tests pour boitiers LCC
Socket de tests pour boitiers LCC
Supports de test pour tous boitiers, récents ou anciens, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) selon boitier, temperature, options
• Plus de 5000 Designs de sockets tous styles en version ClamShell, Open Top, Fixation par vis...avec contacts type C, billes, pogo pins...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre.
SOKCUST
Socket de test personnalisé
Socket de test personnalisé
Support de test et burn in développé spécifiquement (d'après cahier des charges) pour un composant et un environnement de test particuliers.

• Applications : HF, forte puissance, Contraintes électriques / mécaniques particulières...
• Conception en deux étapes : Fourniture du schéma (2 semaines) - Approbation - Fabrication (6 semaines)
• Ce type de support dessiné sur cahier des charges répond totalement à votre application
BIB
Carte de burn-in
Carte de burn-in
Microworld propose des réalisations sur mesure de cartes de burn in pour tous types de composants et fours de burn in.

• Cartes de burn in pour chaleur sèche, multicouches, équipées avec les sockets de test ou nues, dessinées selon votre cahier des charges
• Cartes spéciales haute température, haute fréquence, avec circuiterie particulière...
• Cartes pour chaleur humide (85/85), pour autoclave (Hast test)
• Toute étude particulière de prototype incluant ou non la fourniture ou le design du socket adapté
OneBox
Four de burn in
Four de burn in "OneBox"
Four de burn in vertical adapté aux usages labos et R&D pour tous dispositifs semi-conducteurs ou autres.

• Faible encombrement, utilise un rack standard de 19" (48cm)
• Régulation de l'air automatique afin de maintenir la température à la valeur spécifiée
• Options : Enregistrement de T°, gamme T° étendue, soufflage azote pour minimiser l'oxydation...
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

5 rue de la Verrerie

38120 Le Fontanil-Cornillon

Grenoble / France

Fax : +33(0) 476 757 484

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