CARACTERISATION DE COUCHESSystèmes d'analyse de matériaux

Le système Metricon Prism Coupler 2010/M utilise des techniques avancées de guidage d'ondes optiques pour mesurer rapidement et précisément l'épaisseur et l'indice de réfraction/biréfringence des films diélectriques et polymères ainsi que l'indice de réfraction des matériaux en vrac. Le 2010/M offre des avantages uniques par rapport aux réfractomètres et instruments conventionnels basés sur l'ellipsométrie ou la spectrophotométrie :

• Complètement général – aucune connaissance avancée des propriétés optiques du film/substrat requise
• Résolution d'index de routine de ± 0,0005 (précision jusqu'à ± 0,0001 disponible pour de nombreuses applications)
• Résolution d'index de routine de ± 0,0003 (résolution allant jusqu'à ± 0,00005 disponible pour de nombreuses applications)
• Mesure d'indice de haute précision des matériaux en vrac, des substrats ou des liquides, y compris la biréfringence/anisotropie
• Caractérisation rapide (20 secondes) de films minces, de guides d'ondes optiques diffusés ou de structures de capteurs SPR.
• Mesure simple de l'indice par rapport à la longueur d'onde
• Options permettant de mesurer l'indice en fonction de la température (dn/dT) et de la perte du guide d'ondes.
• Large plage de mesure d'indice (1,0-3,35)

Le modèle 2010/M représente une amélioration significative par rapport à son prédécesseur, le modèle 2010, offrant une compatibilité avec Windows XP/Vista/Seven, un programme de contrôle Windows grandement amélioré et convivial, et de nouvelles fonctionnalités de mesure telles que la possibilité de mesurer avec précision mesures d'épaisseur et d'indice de films très épais ainsi qu'une option pour mesurer l'indice en fonction de la température (dn/dT). Cela élimine également le besoin de la carte d'interface ISA désormais obsolète requise par le 2010.