Nous présentons ici diverses techniques éprouvées de caractérisation
• Mesures 4 pointes
• Mesures effet Hall (loi de Van Der Pauw)
• Caractérisation par contact mercure, particulièrement utile pour des couches fragiles et des matériaux spécifiques (SOI...)
Parmi nos applications associées se trouve également la croissance de couche semi-conductrice par RTP.
