Microworld propose toute une gamme de systèmes permettant de caractériser électriquement des composants électroniques sur wafer ou sur échantillons simples.
De la station de test sous pointes manuelle au prober semi-automatique jusqu'au wafer 300mm (12").
Un large choix d'accessoires et de consommables sont disponibles pour répondre à vos applications.
- Mesures IV et CV
- Mesures HV (10KV)
- Mesures faibles courant fA
- Mesures hyperfréquences (1THz millimétrique)
- Chuck thermiques (chaud/froid : -60°C à 600°C)
- Microscopie
- Isolation lumineuse et vibrations
- Pointes et sondes de tests
- Micropositionneurs dédiés
