Microworld propose une large gamme de systèmes électriques pour caractériser des composants électroniques sur wafer ou échantillons simples. De la station de test sous pointes manuelles au prober semi-automatique jusqu'au wafer 300mm (12"). Des minis probes stations, des stations compactes de test sous pointes, offrant une large plage de test de températures allant de -196°C à 1000°C. Ces mini-stations offrent un environnement contrôlé et complètement hermétique. Vous pouvez contrôler l'environnement avec deux méthodes : en injectant un gaz neutre ou en faisant le vide.
Microworld propose des solutions adaptées à vos besoins ainsi que pour vos applications.
Un large choix d'accessoires et de consommables sont disponibles pour répondre à vos applications.
Equipements et Accessoires:
• Stations de tests sous pointes manuelle ou semi-automatique utilisant la mesure I/V, jusqu'à 10 micropostionneurs en même temps sur des plots inférieurs à 10µm.
• Mini Stations de tests sous pointes manuelle ou semi-automatique utilisant la mesure I/V, Jusqu'à 7 micropositionneurs en même temps sur des plots inférieurs à 10µm.
• Micropositionneurs haute fréquence, haute précision, RF, motorisé...
• Appareils de mesures, source-mètre (Keithley, Keysight), analyseur de réseaux...
• Boîtes noires, cage de Faraday, tables antivibratoires
• Caméras et microscopes
• Chuck thermiques
• Chuck spécifiques (Connection triaxial, forte puissance...)
• Logiciels de mesures
• Portes-pointes connexions Coax, Triax, avec plusieurs types d'isolation téflon, delrin, céramique
• Systèmes d'illumination, simulateur solaire, illuminateur à LED, illuminateur à fibre optique.
Applications :
- Test électrique sur composant (capacité, transistor, diode etc..)
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Circuit imprimé (Analyse de défaillance)
- Test RF : Antenne, réseauteur ...
