ApplicationTESTS SOUS POINTESCarte à pointes & Mapping

Carte à pointes & Mapping

La carte à pointes permet d'accéder à plusieurs plots en même temps. Cela peut être utile par exemple pour polariser un dispositif à tester ou pour un test complet de la puce
Nos stations manuelles ou semi-auto acceptent des cartes à pointes et des micropositionneurs. On peut donc polariser un circuit tout en testant des motifs internes.
De même pour des routines de test répétitives un positionneur motorisé peut être utilisé afin de contacter des points pré-programmés

Microworld propose également des cartes à pointes de production, montées sur des probers automatiques
DEMANDE D'INFORMATIONS
S1160
Station manuelle multi-applications
  Voir la Fiche Produit
Station manuelle multi-applications
Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom
CM210-310
Station de test sous pointes manuelle haute précision
  Voir la Fiche Produit
Station de test sous pointes manuelle haute précision
La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à +300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm
CM465
Station de test sous pointes 6'' semi-automatique
  Voir la Fiche Produit
Station de test sous pointes 6'' semi-automatique
Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 150 mm (6'').

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Plateau X-Y piloté par moteur à induction linéaire et encodeur optique de grande précision
- Application sur cartes à pointes possible
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faibles courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
CM250-350
Station de test sous pointes semi-automatique
  Voir la Fiche Produit
Station de test sous pointes semi-automatique
Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12'').

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à +600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à +300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm
PSM1000
Microscope à tourelle
  Voir la Fiche Produit
Microscope à tourelle "High Power"
Microscope à tourelle d'inspection à forts grossissements.
Il est nécessaire pour le positionnement de pointes de tests sur des petites surfaces de contact.

- Peut être utilisé seul (sur stand) ou monté sur une station de test sous pointes
- Gamme d'accessoires et d'objectifs disponibles (polariseur, analyseur...)
- Prévu pour usage avec caméras numériques
- Application spectroscopique possible
S47
Adaptateur de carte à pointes
  Voir la Fiche Produit
Adaptateur de carte à pointes
Cette fixation mécanique permet de fixer une carte à pointes rectangulaire de 4,5" (114 mm) de large sur une station de tests sous pointes.

- Permet d'alimenter le dispositif par plusieurs pointes tout en effectuant des poses de pointes ciblées sur le milieu de la puce ou sur des plots internes de test
- Ce support existe en deux modèles dont l'un avec réglage de rotation
Probecard
Carte à pointes
  Voir la Fiche Produit
Carte à pointes
Les cartes à pointes permettent de répondre à toutes les applications de test de production et notamment là où les contraintes techniques sont importantes : grande densité de pointes, faible espacement (pitch), test parallèle (multi-DUT), contrainte technologique (low-k, plot sur cicuit actif...).

- Service de design pcb disponible permettant de réaliser des cartes spécifiques
- Tous services de fabrication, diagnostic, réparation, alignement...
- Adaptable pour tests sur plots ou sur bumps
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617
Catégories de produits

STATIONS DE TEST SOUS POINTES

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POINTES ET SONDES DE TEST

MATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCES

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CONSOMMABLES LIES A LA DECOUPE

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DECOUPE DES SUBSTRATS SEMI-CONDUCTEURS

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