Nouveau : Mesure d’effet Hall avec électro-aimant
Nouveau : Four de température de type étuve pour stockage ou pour burn in de composants
Une offre complète de sockets de test pour toute application, en version standard ou sur mesure

Carte à pointes & Mapping

La carte à pointes permet d'accéder à plusieurs plots en même temps. Cela peut être utile par exemple pour polariser un dispositif à tester ou pour un test complet de la puce Nos stations manuelles ou semi-auto acceptent des cartes à pointes et des micropositionneurs. On peut donc polariser un circuit tout en testant des motifs internes. De même pour des routines de test répétitives un positionneur motorisé peut être utilisé afin de contacter des points pré-programmés Microworld propose également des cartes à pointes de production, montées sur des probers automatiques
Support de cartes à pointes
S47xx
Support de cartes à pointes

Cette fixation mécanique permet de fixer une carte à pointes rectangulaire de 4,5" (114mm) de large sur une station de tests sous pointes. Objectif : Alimenter le dispositif par plusieurs pointes tout en effectuant des poses de pointes ciblées sur le milieu de la puce ou sur des plots internes de testCe support existe en deux modèles dont l'un avec réglage de rotation. ...

Table antivibratoire passive
TAF-XX
Table antivibratoire passive
• Dimensions : Selon demande
• Utilisation : Station de test sous pointes, AFM, Microscopie
• Pieds : Réglables en hauteur

Plateau en nid d'abeille plein (ou taraudé) monté sur plots gonflés permettant un amortissement des vibrations du sol pour analyses sous pointes de précision ou inspection optique Plateau de plusieurs dimensions selon poids et taille de l'équipementEpaisseur du marbre adaptée à l'équipement à recevoirPlots Faebi gonflés à la pompe à vélo ou compresseur (ligne d'air continue non indisp...

Carte à pointes
Probecard
Carte à pointes

Les cartes à pointes permettent de répondre à toutes les applications de test de production et notamment là où les contraintes techniques sont importantes : grande densité de pointes, faible espacement (pitch), test parallèle (multi-DUT), contrainte technologique (low-k, plot sur cicuit actif...). Service de design pcb disponible permettant de réaliser des cartes spécifiquesTous service...

Station manuelle multi-applications
S1160-x
Station manuelle multi-applications
• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, max 200 mm
• Déplacement X-Y du chuck : 200/300 mm

Station pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants... Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, faible courant...) Accepte microscope basique bino / trino ou multi-objectifs à tourellesElévation rapide du plateau par bras manuel (changement de plaquettes...)Options n...

Microscope à tourelle
PSM1000
Microscope à tourelle "High Power"
• Gamme de grossissement : 20 à 2000 X
• Accepte caméra : Oui

Microscope d'inspection fine à forts grossissements, le PSM1000 combine une haute technicité et un rapport qualité/prix imbattable Peut être utilisé seul avec une platine porte-échantillons ou monté sur une station de test sous pointesGamme d'accessoires et d'objectifs disponibles en standardPrévu pour usage avec caméras (divers types analogiques ou digitales)...

Station checkmate submicronique
CM210/310
Station checkmate submicronique
• Taille wafer : 200 mm
• Réglage théta : +- 7,5 Degrés
• Type de mouvement : Manuel

La série Checkmate représente l'état de l'art pour des stations de tests sous pointes disponibles en version pour puce individuelle jusqu'au wafer 200 mm ou 300 mm Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre (sur site pour la plupart)Totalement contrôlable par accès GPIB (version motorisée)Test sur carte imprimée, avec carte à pointes, sur dispositif en boitier...Un gr...

Station de test semi-automatique 150mm
CM465
Station de test semi-automatique 150mm

Prober semi-automatique pour plaquettes jusqu'à 150mm max avec chargement-déchargement manuel. Interface intuitive rendant l'utilisation aisée. Compatible mesures RF, fA, tests en température...Applications : engineering produits, analyse de défaillance, caractérisation, petite production...Plateau X-Y piloté par moteur à induction linéaire et encodeur optique de grande précision assoc...

Station de test semi-automatique submicronique
CM250/350
Station de test semi-automatique submicronique
• Taille wafer : 200
• Logiciel : Mapping, autoalignement, autofocus, reconnaissance de pattern...

Stations de tests semi-automatiques avec logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus... Disponible en version pour puce individuelle jusqu'au wafer 200 mm ou 300 mmTest sur carte imprimée ou avec carte à pointes possibleCaractérisation en froid (-65°C) et mesures femtoampUn grand nombre d'accessoires permet de répondre à toutes les applicationsL'outil adapté...

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