Appareil C(V) manuel à contact mercure pour caractérisation de wafers et substrats jusqu'à 200mm Chargement manuel de l'échantillon, Mesure automatiquePermet de Mesurer & Caractériser & Monitorer un grand nombre de paramètres sur les matériaux semi-conducteurs et la qualité des procédés eux-mêmes ...
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ACCESSOIRES POUR STATIONS DE TEST
MATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCES
PRODUITS POUR TEST ET BURN IN DES COMPOSANTS
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