Nouveau : Mesure d’effet Hall avec électro-aimant
Nouveau : Four de température de type étuve pour stockage ou pour burn in de composants
Une offre complète de sockets de test pour toute application, en version standard ou sur mesure
Appareil C(V) manuel à contact mercure pour caractérisation de wafers et substrats jusqu'à 200mm Chargement manuel de l'échantillon, Mesure automatiquePermet de Mesurer & Caractériser & Monitorer un grand nombre de paramètres sur les matériaux semi-conducteurs et la qualité des procédés eux-mêmes ...
Plateau en nid d'abeille plein (ou taraudé) monté sur plots gonflés permettant un amortissement des vibrations du sol pour analyses sous pointes de précision ou inspection optique Plateau de plusieurs dimensions selon poids et taille de l'équipementEpaisseur du marbre adaptée à l'équipement à recevoirPlots Faebi gonflés à la pompe à vélo ou compresseur (ligne d'air continue non indisp...
Appareil C(V) manuel à contact mercure pour caractérisation de wafers et substrats jusqu'à 200mm Chargement manuel de l'échantillon, Mesure automatiquePermet de Mesurer & Caractériser & Monitorer un grand nombre de paramètres sur les matériaux semi-conducteurs et la qualité des procédés eux-mêmes ...
ACCESSOIRES POUR STATIONS DE TEST
MATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCES
PRODUITS POUR TEST ET BURN IN DES COMPOSANTS
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