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CARACTERISATION DE COUCHESSystèmes de mesures 4 pointesWafers de calibration

DEMANDE D'INFORMATIONS

CWWafer de calibration

Wafer permettant de calibrer un système 4 pointes

Spécifications :

• Wafer Silicium
• Diamètre 4" (100 mm)

SRS3Wafer de calibration certifié NIST

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il pocéde la certification NIST.

Spécifications :

 • Wafer 3" (75mm)
• Certification NIST valable 1 an
A PROPOS DE NOS Wafers de calibration
Afin de garantir la précision de mesure sur l'ensemble de vos équipements, une large gamme de wafers de calibration est proposée avec plusieurs résistivité possibles allant de 0,002 ohm.cm à 3 ohm.cm. Tout ces wafers sont certifiés NIST.

Spécifications :

 • Wafer de calibration certifié NIST valable 1 an
• Modèles de 3" à 12"
• Plusieurs gammes de résistivité
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617
Catégories de produits

CARACTERISATION DE COUCHES

TESTS ET BURN IN DES COMPOSANTS

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