CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUESMesures 4 pointesMesures manuelles 1 ou quelques points

S302Stand de mesure 4 pointes

Le système se compose d'une potence de maintien de la tête 4PP avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer 100 ou 150 mm. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications :

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche... dans le domaine caractérisation de matériaux

MW-Pack4PP-MEnsemble de mesure 4 pointes manuel gamme moyenne résistivité

Système de mesure 4 pointes pour laboratoires, pour la recherche et petites productions. Le stand comprend plusieurs fonctionnalités lui permettant d'assurer des mesures de résistivité et de résistance de surface grâce à 4 pointes précises. Il est possible de caractériser les matériaux fabriqués par dopage semi-conducteur, dépot de métal ou sur verre, matériaux caoutchouc...

Un levier manuel permet de faire un mouvement en Z de contact et non contact avec une répétabilité de l'ordre du micron. De plus, une molette de réglage située sur le dessus de l'appareil permet d'affiner avec précision le mouvement en Z.
L'échantillon à tester est monté sur un support mobile qui permet de se placer sous la tête de mesure facilement entre chaque point de mesure.
De plus, l'équipement dispose de plusieurs tailles de chuck allant de 4" à 12".

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Mapping
• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact.
• La mesure est effectuée par un appareil externe Keithley 2450.
• Logiciel permettant le traitement des données
• Création d'une courbe I/V
• Mesure bipolaire
• Export de données sous format Txt, Excel, CSV...

Le système de mesure utilise un logiciel de mesure et d'affichage des résultats qui permet l'exportation des données pour un traitement de données postérieur. Il est possible d'effectuer une cartographie de l'échantillon en fonction des résistivités ou des épaisseurs mesurées.
L'utilisateur saisit la taille et forme de l'échantillon, bord d'exclusion et nombre de point à tester. Une image graphique des points de mesure cibles est affichée. A la fin du test de tous les points, nous retrouvons la moyenne des valeurs mesurées, l'écart type ainsi que les maximums et minimums de mesure.

SRM232Système de mesure 4 pointes portable

Le système de résistivité portable est un dispositif qui offre la possibilité de mesurer la résistivité, résistance, résistance de surface ou bien l'épaisseur sur une grande variété de matériaux de tailles variables. Grâce à son fonctionnement sur pile, ce système présente des applications polyvalentes qui peuvent être mises à profit dans divers domaines.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Dépôt d'oxyde
- Photovoltaïque
- Céramique & Verre
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Batteries
- Electrodes

Spécifications :

• 4 modèles/gammes de mesure disponibles avec calibrateur adapté
• Tête 4 pointes interchangeable
• Applications : Conductivité/résistivité de couches sur panneaux de grandes dimensions, fuselages, carrosseries... ou en mesure totalement mobile sur site extérieur.

CWWafer de calibration

Wafer permettant de calibrer un système 4 pointes

Spécifications :

• Wafer Silicium
• Diamètre 4" (100 mm)

SRS3Wafer de calibration certifié NIST

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il pocéde la certification NIST.

Spécifications :

• Wafer 3" (75mm)
• Certification NIST valable 1 an

SP4Tête de mesures 4 pointes

Tête 4 pointes pour température ambiante, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en delrin avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon application & type de couche
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, fiches banane, BNC, câbles triaxiaux, connecteur 9 broches...

CP4Tête de mesures 4 pointes cylindrique

Tête 4 pointes pour mesure de résistivité, resistance, resistance de surface ou épaisseur. Utilisable sur équipements de la série 280 ou séparément, espacements de pointes standard est de 1 mm. La pression est réglable directement sur la tête.

Spécifications:

• Pointes avec pression ajustable
• Finesse de bout des pointes (tip radius) adaptée à la plupart des couches électroniques
• Livrée avec connecteur 9 broches pour câblage direct
• Utilisation température ambiante uniquement

HT4Tête de mesures 4 pointes haute température

Tête 4 pointes pour haute température et haute résistivité, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en macor avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon type de couche à mesurer
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, Banana jacks, Triax...

A PROPOS : Mesures manuelles 1 ou quelques points

Mesure de la résistivité de surface d'un matériau semi-conducteur en un point ou jusqu'à 5 points (avec déplacement manuel)
• Utilise une potence et une tête 4 pointes dans une gamme de plusieurs modèles
• Système évolutif