TESTS SOUS POINTESMesures en forte puissance

MOTICAM1080XCaméra numérique

Cette caméra est très utile pour une vison en direct pour faciliter la pose de pointes.

- Compatible avec nos microscopes trinoculaires
- Montage C
- Multi-sorties pour vision directe sur moniteur (HMDI) et USB

MOTICAM1080NCaméra numérique

MOTICAM4000Caméra numérique haute définition

Caméra numérique haute définition d'inspection et d'aide à la pose de pointes sur wafer.

Cette caméra utilise un montage C pour être montée sur la plupart des microscopes du marché.
Sa haute définition lui offre la possibilité de poser les pointes sur des plots très petits.
Elle possède plusieurs sorties pour permettre une grande variété d'utilisations (HDMI 4K, USB...).
Une carte SD peut-être connectée pour réaliser des prises d'images rapides.

S1160B-8NStation de test sous pointes manuelle 8"

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

CM170Station de test sous pointes manuelle haute stabilité

Issue de la combinaison de deux modèles, la station CM170 assure stabilité et précision pour un prix modéré.

- Large plateau permettant d'accueillir des têtes millimétriques
- Applications multiples (optique, carte à pointes, HF...)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM170 : mesures DC à 100 MHz
WL170 : mesures DC à 110 GHz
WL170-THz : mmW jusqu'à 1.1 THz (chuck surélevé)

CM210Station de test sous pointes manuelle haute précision 8"

La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à +300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm

WL210LEStation de test sous pointes RF manuelle haute précision 8" avec chambre locale

Cette station de test sous pointes est dérivée de la gamme Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesures en températures (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant.

- Mesures fA (faibles courants)
- Isolation lumineuse
- Blindage électrique
- Configurations : 4 ports HF ou 8 ports DC/Kelvin ou combinaison HF/DC
- Existe en 300mm
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à +300°C)

CM465Station de test sous pointes semi-automatique 6"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 150 mm (6'').

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Plateau X-Y piloté par moteur à induction linéaire et encodeur optique de grande précision
- Application sur cartes à pointes possible
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faibles courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production

CM250Station de test sous pointes semi-automatique 8"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à +600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à +300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm

WL250-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 8" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et +300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale

WL350-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 12" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et +300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale

CM350Station de test sous pointes semi-automatique 12"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à +600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à +300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm

FixtureBoxBoite noire pour mesures fortes puissances

Solution test fixture compacte pour mesures Haute-tensions (HV) et Fort-courants (HC)

- Mesures jusqu'à 10kV
- Compatibilité Keithley et Keysight
- Interlock de sécurité

HVPPorte-pointe haute tension

Cette série de porte-pointes permet des mesures hautes tensions, jusqu'à 20KV.

Fixation de la pointe par mandrin ou par vis.
Idéal pour des mesures IV sur transistors HT ou diodes HT.

PSM1000Microscope à tourelle

Microscope à tourelle d'inspection à forts grossissements.
Il est nécessaire pour le positionnement de pointes de tests sur des petites surfaces de contact.

- Peut être utilisé seul (sur stand) ou monté sur une station de test sous pointes
- Gamme d'accessoires et d'objectifs disponibles (NIR, NUV, polariseur, analyseur...)
- La tête trinoculaire permet l'utilisation de caméras numériques
- Application spectroscopique possible

AZOOMµMicroscope mono-objectif

Ce microscope permet le grossissement d'un microscope à tourelle sans l’encombrement des objectifs non utilisés.
Sa tête trinoculaire permet d'utiliser une caméra, et/ou un laser.

- L'illumination est réalisée par un éclairage traversant à LED
- Montage C pour caméra
- Grande distance de travail

MS12ZMicroscope mono-objectif

Ce microscope est composé d'un mono-objectif avec un zoom interne inclus.
Il permet un grande plage de grossissement sans l'inconvénient de la tourelle pour des applications de tests sous pointes.

- Compact et léger
- Grande distance de travail (idéal pour applications hautes fréquences)
- Montage C pour caméra
- Grande luminosité (éclairage par fibre optique LED)

MOTICAMS12Caméra numérique

Caméra adaptable sur tous les microscopes trinoculaires, fournie une aide au positionnement des pointes de tests.

- Logiciel de capture et de mesure fourni
- Capteur haute résolution

SP100Micropositionneur haute précision SP100

Ce micropositionneur de haute précision avec ses molettes en ligne permet de poser des pointes de tests sur des plots ou sur des lignes avec une précision de l'ordre du micromètre.

- Descente de la pointe totalement verticale.
- Option tête pivotante (plongée rapide pour pré-positionnement Z puis mouvement fin) ou Standard avec molette Z.
- Les molettes de réglage en ligne avec vis micrométriques (100TPI) permettent une densité optimale sur le plateau.

SP150Micropositionneur submicronique ultra-stable SP150

Micropositionneur de haute précision et ultra-stable avec molettes de mouvements en ligne, permet de poser des pointes sur des plots ou sur des lignes avec une précision submicronique.

- Descente de la pointe totalement verticale.
- Choix de tête Pivotante P ou Standard (descente avec molette Z).
- Le SP150 représente le micropositionneur le plus abouti actuellement disponible pour des positionnements de très grande précision.
- Les molettes de réglage en ligne avec vis micrométriques (100TPI) permettent une densité optimale sur le plateau.

TA-VIS-7575Table antivibratoire sur coussin d'air

Table montée sur coussins d'air permettant un amortissement des vibrations du sol pour de l'analyse sous pointes de grande précision ou de l'inspection optique.

- Plateau de plusieurs dimensions selon poids et taille de l'équipement
- Rattrapage automatique du niveau horizontal

MW-DBBoite noire personnalisée

Pour les systèmes de test sous pointes non équipés de chambre locale, Microworld offre des boites noires permettant d'isoler les stations de tests sous pointes ou tout autre système.

- Isolation électrique et lumineuse
- Sécurité utilisateur pour utilisation en haute tension
- Panneaux de connecteurs traversants
- Passage de câble col de cygne
- Taille et design sur demande

S1080Contrôleur de température

Ce chuck thermique tri temp permet une caractérisation en température complète des dispositifs dans une plage de température comprise entre -60°C et +300°C.

- Contrôle de la température sur écran tactile ou en remote
- Rapidité de changement d'état (chaud / froid)
- Possibilité de chauffage par rampe (paliers de températures)

PACELogiciel de mesure et de contrôle

PACE est un logiciel qui fournit une solution pour combiner des outils de mesure, automatiser des séquences de caractérisation et importer/exporter des données.

PACE s'articule autour de 3 fenêtres :
- Fenêtre de mesure : configuration et contrôle des outils de mesure
- Fenêtre de séquence : configuration et contrôle de l'exécution de la séquence
- Fenêtre de mapping : configuration du mapping et contrôle de la station de test (pour les stations semi-automatique)

L'interface peut-être personnalisée en fonction des besoins du client :
- Test MEMS sur support PCB
- Import de fichiers GDS pour mapping de wafer
- Pilotage d'analyseur de réseau (Rohde & Schwarz), SMU (Keithley, Keysight...)

ERS-AC3Chuck thermique

Depuis 50 ans ERS développe des chucks thermiques compatible avec toutes les stations de test sous pointe.

Ils possèdent les propriétés suivantes :
- Haute température : 300°C
- Basse température : une technologie brevetée à flux d'air permet le refroidissement jusqu'à -65°C
- Chuck TRIAX pour mesure faible courant (FemtoAmp)
- Chuck Haute tension
- Chuck non magnétique

HPCHUCKChuck forte puissance

Le chuck forte puissance est prévu pour être utilisé lors de caratérisation sous pointes en haute tension ou fort courant.

- Disponible en version 150, 200 ou 300 mm
- Pour des mesures hautes tensions traversantes (10KV)

MWPHCPointe fort courant

La pointe HCP (High Current Probe) est conçue d'après un design innovateur et unique, Le courant est distribué sur les contacts et un radiateur inclus dissipe la chaleur au niveau du plot. L'utilisateur dispose ainsi d'une connexion Kelvin au niveau du plot de contact pour un investissement minimal.

- Specs PowerPro 3kV triax / 10kV coax, 450A pulsed / 10A DC
- Pointes en Tungstène, corps en céramique pour utilisation haute température
- Montage sur micropositionneur RF
- Modèle MWPHC-100, MWPHC-450
- Accessoire indispensable à l'option forte puissance PowerPro

A PROPOS : Mesures en forte puissance

Nécessaire pour certains dispositifs dans les secteurs automobile et autres, la configuration forte puissance est disponible sur nos stations sous pointes de type WL350, WL210e, WL170
Les tensions de mesure disponibles : De 3kV triax à 10kV coax, 10A DC à 450A pulsé
• Solution spécifique pour anti-arc électrique
• Pointes spéciales fort courant (Kelvin) et haute tension (triax ou coax)