MATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCESSystèmes de mesures par Effet Hall

MATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCES - Systèmes de mesures par Effet Hall

Gamme standard
Gamme températures
Modèle spécifique photonique
Portes-echantillons

Les systèmes de mesure par effet Hall utilisent une technique spécifique pour déterminer les propriétés électriques des couches.
Les échantillons de mesure sont des carrés de 5x5 à 25x25 mm, le contact se fait sur les quatre cotés.
Cette technique permet de mesurer et suivre des paramètres tels que courbe I-V, I-R, conductivité, concentration de porteurs, coefficient de Hall...
• Aimants fixes de valeurs différentes
• Températures basses à partir de 77K, ambiantes, ou hautes jusqu'à 770K
• Option de Mesure en variation de température continue

DEMANDE D'INFORMATIONS

Gamme standard

Appareil de mesure à source de courant constant et aimants permanents de rapport qualité/prix particulièrement intéressant pour tests à température ambiante ou à 77K (azote liquide), permet de mesurer résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
• Permet de caractériser les couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires...
• Différents aimants disponibles selon critères de test

HMS3000

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Système de mesure manuel par Effet Hall

Le HMS3000 est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall... Il utilise la méthode Van Der Pauw et permet de caractériser les couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires...

Il inclut :

- Socle aimant au choix : 0.55T et 1T (aimant variable possible)
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure à température ambiante et à 77K

Le HMS3000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs à 300K et 77K (température ambiante et température de l'azote liquide).

Gamme températures

Série d'appareils pour mesure en température de gamme croissante
• Modèle HMS5000 pour mesure en température des paramètres obtenus par la technique Van Der Pauw
• Modèle HMS5300 adapté pour haute température
• Modèle HMS5500 pour très hautes températures

HMS5000

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Système de mesure par Effet Hall en température (semi-automatique)

Le modèle HMS5000 permet de caractériser un grand nombre d'échantillons possédant une couche semi-conductrice accessible par la méthode Van Der Pauw.
Cet appareil à source de courant constante et aimant permanent permet la mesure sur des couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires... de paramètres tels que résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

La configuration de base inclut :

- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation et contact sur l'échantillon par clip rapide
- Mesure en température

Le HMS5000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs à 350K et 77K (température de l'azote liquide).

HMS5300

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Système de mesure par Effet Hall hautes températures (semi-automatique)

Le modèle HMS5300 est un complément au système HMS5000 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 570K

Le HMS5300 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.

HMS5500

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Système de mesure par Effet Hall très hautes températures (semi-automatique)

Le modèle HMS5500 est un complément aux systèmes HMS5000-5300 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 770K

Le HMS5500 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.

Modèle spécifique photonique

Le modèle photonique permet l'illumination du dispositif sous test pendant la mesure afin de déterminer les réponses électriques selon les longueurs d'onde.

HMS7000

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Système de mesure Photonique par Effet Hall en température

Le modèle HMS7000 permet de mesurer divers paramètres en utilisant la mesure par Effet Hall, en fonction d'une longueur d'onde (RGB).
ll utilise la méthode Van Der Pauw et permet de caractériser les couches semi-conductrices, compound, cellules solaires...

Sont inclus :

- Logiciel + traçage de courbe I-V, R-V pour vérification des contacts ohmiques
- Socle aimant permanent 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide
- Gestion de la température
- Option illumination LED RGB

Portes-echantillons

Les porte échantillons sont choisis en fonction de l'épaisseur du matériau à mesurer, ils sont composés d"une carte PCB sur laquelle se fixent les échantillons à analyser (dimensions max 20x20mm)
• 4 pointes à ressort réglables permettent le contact sur les quatre cotés
• Plusieurs modèles sont disponibles

SPCB

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Porte-échantillon pour systèmes HMS

Ce porte-échantillon "rapide" est composé d'une carte PCB sur laquelle se fixent par clip l'échantillon à analyser (max 25x25mm excepté HMS3000 65x65mm).

- Quatre pointes à ressort plaquées or permettent le contact sur les cotés de l'échantillon (dans certains cas une goutte de soudure d'indium sera déposée en plus, selon le type de matériau)
- Montage sans soudure