TESTS ET BURN IN DES COMPOSANTS

Microworld propose un catalogue de Sockets de tests pour réaliser des mesures électriques et de vieillissement prématurés sur puces encapsulées (boitiers).

Du Socket simple type BGA, QFN, LCC, SOT... à la carte de Burn In.

- Sockets personnalisés
- Sockets fortes puissances
- Sockets hautes températures
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