Nouveau : Conditionneur thermique pour forçage de température froide ou chaude sur un composant

Nouveau : Mesure d’effet Hall avec électro-aimant

Nouveau : Four de température de type étuve pour stockage ou pour burn in de composants

Supports de test et burn in (sockets) disponibles pour tous les types de boitier et adaptés à des contraintes de test exigeantes, envoyez-nous le schéma dimensionnel de votre composant

Une offre complète de sockets de test pour toute application, en version standard ou sur mesure

ApplicationTESTS ELECTRIQUES DE COMPOSANTS EN BOITIER Accès à la puce d'un composant en boitier

Accès à la puce d'un composant en boitier

Un composant en boitier dont la puce a été rendue accessible soit par gravure chimique ou par ouverture du capot boitier peut être testé sous pointes dans le cadre d'analyses de défaillances. Il faut pour cela un accessoire spécifque permettant de le maintenir pendant le test et une station sous pointes acceptant cet accessoire et permettant de connecter le dispositif à ses entrées/sorties. Microworld vous propose la solution globale

DEMANDE D'INFORMATIONS

H1xx

Station de tests manuelle économique

• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, 100 mm max

Station de tests sous pointes disponible en 3 versions différenciées par la façon de positionner le chuck et la précision associée Déplacement X - Y de 100mmSystème de levée rapide du plateauJusqu'à 6 micropositionneurs et une carte à pointes ...

S1160-x

Station manuelle multi-applications

• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, max 200 mm
• Déplacement X-Y du chuck : 200/300 mm

Station pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants... Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, faible courant...) Accepte microscope basique bino / trino ou multi-objectifs à tourellesElévation rapide du plateau par bras manuel (changement de plaquettes...)Options n...

SMZ168

Microscope stéréozoom

• Gamme de grossissement : 7.5X à 50X (Max 130X selon oculaire)
• Illumination : Non incluse (fibre optique ou Led)
• Zoom interne : 0.75, 1, 2, 3, 4, 5 X

Microscope à tête trinoculaire permettant d'adapter une caméra avec grossissement continu par zoom, distance de travail ultra-longue pour un espace de travail maximum en dessous de l'objectif. Optiques de très haute qualité offrant une clarté d'image supérieure et un champs de vue agrandiNombreuses options et accessoires disponibles permettant de répondre à toutes les applications où un...

Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

Catégories de produits

STATIONS DE TEST SOUS POINTES

ACCESSOIRES POUR STATIONS DE TEST

POINTES ET SONDES DE TEST

MATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCES

PRODUITS POUR TEST ET BURN IN DES COMPOSANTS

MACHINES DE DECOUPE ET PROCEDES ASSOCIES

CONSOMMABLES LIES A LA DECOUPE

Applications

CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES

CONTRÔLE D'INSTRUMENTATION