TESTS ELECTRIQUES DE COMPOSANTS EN BOITIERAccès à la puce d'un composant en boitier

Un composant en boitier dont la puce a été rendue accessible soit par gravure chimique ou par ouverture du capot boitier peut être testé sous pointes dans le cadre d'analyses de défaillances. Il faut pour cela un accessoire spécifque permettant de le maintenir pendant le test et une station sous pointes acceptant cet accessoire et permettant de connecter le dispositif à ses entrées/sorties. Microworld vous propose la solution globale