Accès à la puce d'un composant en boitier

Station de tests sous pointes disponible en 3 versions différenciées par la façon de positionner le chuck et la précision associée Déplacement X - Y de 100mmSystème de levée rapide du plateauJusqu'à 6 micropositionneurs et une carte à pointes ...

Station pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants... Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, faible courant...) Accepte microscope basique bino / trino ou multi-objectifs à tourellesElévation rapide du plateau par bras manuel (changement de plaquettes...)Options n...

Microscope à tête trinoculaire permettant d'adapter une caméra avec grossissement continu par zoom, distance de travail ultra-longue pour un espace de travail maximum en dessous de l'objectif. Optiques de très haute qualité offrant une clarté d'image supérieure et un champs de vue agrandiNombreuses options et accessoires disponibles permettant de répondre à toutes les applications où un...