Accès à la puce d'un composant en boitier

Un composant en boitier dont la puce a été rendue accessible soit par gravure chimique ou par ouverture du capot boitier peut être testé sous pointes dans le cadre d'analyses de défaillances. Il faut pour cela un accessoire spécifque permettant de le maintenir pendant le test et une station sous pointes acceptant cet accessoire et permettant de connecter le dispositif à ses entrées/sorties. Microworld vous propose la solution globale
S1160
Station manuelle multi-applications
Station manuelle multi-applications
Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).


- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom
SMZ168
Microscope stéréozoom
Microscope stéréozoom
Microscope stéréozoom à tête trinoculaire pour faciliter le positionnement des pointes de tests à coût modéré.

- Très grande distance de travail (WD = 113 mm)
- Montage C pour caméra numérique
- Large gamme d'objectifs et d'oculaires pour tout grossissement
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

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