Stations manuelles

STATIONS DE TEST SOUS POINTES - Stations manuelles

Elles permettent de tester sous pointes tout type de puce unitaire ou une série de puces sur plaquette entière ou partielle jusqu'à 300mm de diamètre.
• Mouvement manuel du plateau (chuck) et du microscope par molette
• Modèle entrée de gamme, économique multi-applications ou submicronique haute précision
• Configuration spécifique faible courant, forte puissance
• Configurable et upgradable avec choix d'options, chuck chauffant, triaxial, boite noire...
• Disponibles en version standard ou haute-fréquence
H1xx
Station de tests manuelle économique
Station de tests manuelle économique
Station de tests sous pointes disponible en 4 versions différenciées par la façon de positionner le chuck et la précision associée.

- Système de levée rapide du plateau
- Jusqu'à 6 micropositionneurs et une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

H-100 : Déplacements manuel du chuck
H-120 : Déplacements manuel + molettes X-Y
H-150 : Déplacements de précision par molettes
H-150W : Chuck spécifique pour version RF
S1160-x
Station manuelle multi-applications
Station manuelle multi-applications
Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).


- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité
WL1160-x
Station manuelle RF
Station manuelle RF
Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application.

- Mesures DC jusqu'à 110 GHz
- Base massive pour une meilleure stabilité
- Chuck anti-résonnant
- Chuck pour substrat de calibration indépendant en rotation
- Levée rapide et réglage fin du plateau
- Microscope binoculaire / trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)
- Accepte jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément
CM170-WL170
Station de test sous pointes manuelle haute stabilité
Station de test sous pointes manuelle haute stabilité
Issue de la combinaison de deux modèles, la station CM170/WL170 assure stabilité et précision pour un prix modéré.

- Large plateau permettant d'accueillir des têtes millimétriques
- Applications multiples (optique, carte à pointes, HF...)


RÉFÉRENCES COURANTES

CM170 : mesures DC à 100 MHz
WL170 : mesures DC à 110 GHz
WL170-THz : mmW jusqu'à 1.1 THz (chuck surélevé)
CM210-310
Station de test sous pointes manuelle haute précision
Station de test sous pointes manuelle haute précision
La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à +300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes


RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm
WL210-310
Station de test sous pointes HF manuelle haute précision
Station de test sous pointes HF manuelle haute précision
La série WaveLink représente les stations de tests sous pointes HF les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Non résonance de l'ensemble jusqu'à 500 GHz
- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Caractérisation en température optionnelle (-60°C à +300°C)
- Peut accueillir jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

RÉFÉRENCES COURANTES

WL210 : Version 200 mm
WL310 : Version 300 mm
WL210E
Station de test sous pointes 8'', manuelle avec chambre locale
Station de test sous pointes 8'', manuelle avec chambre locale
Cette station de test sous pointes est dérivée de la gamme Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesures en températures (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant.

- Mesures fA (faibles courants)
- Isolation lumineuse
- Blindage électrique
- Configurations : 4 ports HF ou 8 ports DC/Kelvin ou combinaison HF/DC
- Existe en 300mm
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à +300°C)
Stations économiques pour puces ou plaquettes jusqu'à 200mm pour géométries de motifs à partir de quelques microns
• Disponibles pour application standard et/ou pour application RF
• Acceptent un microscope de type binoculaire ou high power à tourelles
• Jusqu'à 10 positionneurs avec base à vide ou magnétique
• Chuck chauffant et chaud-froid sur demande
• Grand choix d'options permettant de personnaliser l'équipement retenu

H1xx
Station de tests manuelle économique
Station de tests manuelle économique
Station de tests sous pointes disponible en 4 versions différenciées par la façon de positionner le chuck et la précision associée.

- Système de levée rapide du plateau
- Jusqu'à 6 micropositionneurs et une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

H-100 : Déplacements manuel du chuck
H-120 : Déplacements manuel + molettes X-Y
H-150 : Déplacements de précision par molettes
H-150W : Chuck spécifique pour version RF
S1160-x
Station manuelle multi-applications
Station manuelle multi-applications
Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).


- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité
WL1160-x
Station manuelle RF
Station manuelle RF
Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application.

- Mesures DC jusqu'à 110 GHz
- Base massive pour une meilleure stabilité
- Chuck anti-résonnant
- Chuck pour substrat de calibration indépendant en rotation
- Levée rapide et réglage fin du plateau
- Microscope binoculaire / trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)
- Accepte jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément
Une gamme de stations de précision pour test sur plots ou sur lignes internes de faible dimension, accepte puce individuelle, plaquette partielle ou entière jusqu'à 300mm.
• Base massive haute stabilité pour un niveau de vibrations minimum sur table antivibratoire
• Configurations de plateau à vide standard, triax, chauffant, chaud/froid...
• Microscope intégré type à tourelle ou mono-objectif
• Accepte micropositionneurs haut de gamme
• Configurations sur mesure selon cahier des charges

CM170-WL170
Station de test sous pointes manuelle haute stabilité
Station de test sous pointes manuelle haute stabilité
Issue de la combinaison de deux modèles, la station CM170/WL170 assure stabilité et précision pour un prix modéré.

- Large plateau permettant d'accueillir des têtes millimétriques
- Applications multiples (optique, carte à pointes, HF...)


RÉFÉRENCES COURANTES

CM170 : mesures DC à 100 MHz
WL170 : mesures DC à 110 GHz
WL170-THz : mmW jusqu'à 1.1 THz (chuck surélevé)
CM210-310
Station de test sous pointes manuelle haute précision
Station de test sous pointes manuelle haute précision
La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à +300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes


RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm
WL210-310
Station de test sous pointes HF manuelle haute précision
Station de test sous pointes HF manuelle haute précision
La série WaveLink représente les stations de tests sous pointes HF les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Non résonance de l'ensemble jusqu'à 500 GHz
- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Caractérisation en température optionnelle (-60°C à +300°C)
- Peut accueillir jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

RÉFÉRENCES COURANTES

WL210 : Version 200 mm
WL310 : Version 300 mm
WL210E
Station de test sous pointes 8'', manuelle avec chambre locale
Station de test sous pointes 8'', manuelle avec chambre locale
Cette station de test sous pointes est dérivée de la gamme Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesures en températures (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant.

- Mesures fA (faibles courants)
- Isolation lumineuse
- Blindage électrique
- Configurations : 4 ports HF ou 8 ports DC/Kelvin ou combinaison HF/DC
- Existe en 300mm
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à +300°C)
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

5 rue de la Verrerie

38120 Le Fontanil-Cornillon

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