Nouveau : Mesure d’effet Hall avec électro-aimant
Nouveau : Four de température de type étuve pour stockage ou pour burn in de composants
Une offre complète de sockets de test pour toute application, en version standard ou sur mesure
Elles permettent de tester sous pointes tout type de puce unitaire ou une série de puces sur plaquette entière ou partielle jusqu'à 300mm de diamètre. • Mouvement manuel du plateau (chuck) et du microscope par molette • Modèle entrée de gamme, économique multi-applications ou submicronique haute précision • Configuration spécifique faible courant, forte puissance • Configurable et upgradable avec choix d'options, chuck chauffant, triaxial, boite noire... • Disponibles en version standard ou haute-fréquence
Station de tests manuelle économique
H1xx
Station de tests manuelle économique
• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, 100 mm max

Station de tests sous pointes disponible en 3 versions différenciées par la façon de positionner le chuck et la précision associée Déplacement X - Y de 100mmSystème de levée rapide du plateauJusqu'à 6 micropositionneurs et une carte à pointes ...

Station manuelle multi-applications
S1160-x
Station manuelle multi-applications
• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, max 200 mm
• Déplacement X-Y du chuck : 200/300 mm

Station pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants... Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, faible courant...) Accepte microscope basique bino / trino ou multi-objectifs à tourellesElévation rapide du plateau par bras manuel (changement de plaquettes...)Options n...

Station manuelle RF
WL1160-x
Station manuelle RF
• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, max 150 mm

Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application Base et plateau particulièrement stablesChuck pour substrat de calibrage indépendant en rotationLevée rapide et réglage fin du plateauMicroscope haute performance ou binoculaire/trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)Accepte jusqu'à 4 positionneurs RF et ...

Station haute stabilité DC (CM170) ou RF (WL170)
CM170/WL170
Station haute stabilité DC (CM170) ou RF (WL170)
• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, max 200 mm

Issue de la combinaison de deux stations précises la CM210/WL210 submicronique et la S1160/WL1160 économique, la station CM170/WL170 assure stabilité et précision pour un prix modéré Levée rapide et réglage fin du plateauMicroscope haute performance ou binoculaireVersion DC CM170 ou RF microwave WL170Accepte jusqu'à 10 micropositionneurs DC ou 4 RFStation CM170 compatible avec l'optio...

Station checkmate submicronique
CM210/310
Station checkmate submicronique
• Taille wafer : 200 mm
• Réglage théta : +- 7,5 Degrés
• Type de mouvement : Manuel

La série Checkmate représente l'état de l'art pour des stations de tests sous pointes disponibles en version pour puce individuelle jusqu'au wafer 200 mm ou 300 mm Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre (sur site pour la plupart)Totalement contrôlable par accès GPIB (version motorisée)Test sur carte imprimée, avec carte à pointes, sur dispositif en boitier...Un gr...

Station manuelle avec chambre locale
WL210e/310e
Station manuelle avec chambre locale
• Taille wafer : 200
• Option : Chuck chaud/froid, puissance PowerPro

Cette station de test est dérivée de la gamme submicronique Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesure en température (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant. Le déplacement du chuck est motorisé pour une grande précision de déplacementWL210e compatible avec l'option forte puissance PowerProModèle WL210e => 200mm max, ...

Station RF Wavelink submicronique
WL210/310
Station RF Wavelink submicronique
• Taille wafer : 200

Station microwave pour tests de type S-Parameter, Load-pull, 1/f, tests de bruits et beaucoup d'autres, la série WL210/310 représente le choix optimum en station manuelle, en focus la non-résonnance de l'ensemble jusqu'à 350GHz. Le test RF nécessite une très bonne reproductibilité de positionnement d'une puce à l'autre afin de ne pas générer d'erreurs de parasitage, la série WL210 a ...

Stations économiques pour puces ou plaquettes jusqu'à 200mm pour géométries de motifs à partir de quelques microns • Disponibles pour application standard et/ou pour application RF • Acceptent un microscope de type binoculaire ou high power à tourelles • Jusqu'à 10 positionneurs avec base à vide ou magnétique • Chuck chauffant et chaud-froid sur demande
  • Grand chix d'options permettant de personnaliser l'équipement retenu
Station de tests manuelle économique
H1xx
Station de tests manuelle économique
• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, 100 mm max

Station de tests sous pointes disponible en 3 versions différenciées par la façon de positionner le chuck et la précision associée Déplacement X - Y de 100mmSystème de levée rapide du plateauJusqu'à 6 micropositionneurs et une carte à pointes ...

Station manuelle multi-applications
S1160-x
Station manuelle multi-applications
• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, max 200 mm
• Déplacement X-Y du chuck : 200/300 mm

Station pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants... Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, faible courant...) Accepte microscope basique bino / trino ou multi-objectifs à tourellesElévation rapide du plateau par bras manuel (changement de plaquettes...)Options n...

Station manuelle RF
WL1160-x
Station manuelle RF
• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, max 150 mm

Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application Base et plateau particulièrement stablesChuck pour substrat de calibrage indépendant en rotationLevée rapide et réglage fin du plateauMicroscope haute performance ou binoculaire/trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)Accepte jusqu'à 4 positionneurs RF et ...

Une gamme de stations de précision pour test sur plots ou sur lignes internes de faible dimension, accepte puce individuelle, plaquette partielle ou entière jusqu'à 300mm. • Base massive haute stabilité pour un niveau de vibrations minimum sur table antivibratoire • Configurations de plateau à vide standard, triax, chauffant, chaud/froid... • Microscope intégrée type à tourelle ou mono-objectif • Accepte micropositionneurs haut de gamme • Configurations sur mesure selon cahier des charges
Station haute stabilité DC (CM170) ou RF (WL170)
CM170/WL170
Station haute stabilité DC (CM170) ou RF (WL170)
• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, max 200 mm

Issue de la combinaison de deux stations précises la CM210/WL210 submicronique et la S1160/WL1160 économique, la station CM170/WL170 assure stabilité et précision pour un prix modéré Levée rapide et réglage fin du plateauMicroscope haute performance ou binoculaireVersion DC CM170 ou RF microwave WL170Accepte jusqu'à 10 micropositionneurs DC ou 4 RFStation CM170 compatible avec l'optio...

Station checkmate submicronique
CM210/310
Station checkmate submicronique
• Taille wafer : 200 mm
• Réglage théta : +- 7,5 Degrés
• Type de mouvement : Manuel

La série Checkmate représente l'état de l'art pour des stations de tests sous pointes disponibles en version pour puce individuelle jusqu'au wafer 200 mm ou 300 mm Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre (sur site pour la plupart)Totalement contrôlable par accès GPIB (version motorisée)Test sur carte imprimée, avec carte à pointes, sur dispositif en boitier...Un gr...

Station manuelle avec chambre locale
WL210e/310e
Station manuelle avec chambre locale
• Taille wafer : 200
• Option : Chuck chaud/froid, puissance PowerPro

Cette station de test est dérivée de la gamme submicronique Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesure en température (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant. Le déplacement du chuck est motorisé pour une grande précision de déplacementWL210e compatible avec l'option forte puissance PowerProModèle WL210e => 200mm max, ...

Station RF Wavelink submicronique
WL210/310
Station RF Wavelink submicronique
• Taille wafer : 200

Station microwave pour tests de type S-Parameter, Load-pull, 1/f, tests de bruits et beaucoup d'autres, la série WL210/310 représente le choix optimum en station manuelle, en focus la non-résonnance de l'ensemble jusqu'à 350GHz. Le test RF nécessite une très bonne reproductibilité de positionnement d'une puce à l'autre afin de ne pas générer d'erreurs de parasitage, la série WL210 a ...

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