TEST SOUS POINTESStations de tests sous pointesStations manuelles

H150Station de test sous pointes manuelle 4"

Station de tests sous pointes facile à utiliser pour wafers jusqu'à 100mm.

- Déplacement du chuck XY
- Système de levée rapide du plateau
- Accepte jusqu'à 6 micropositionneurs ou carte à pointes
- Support microscope fixe

S1160B-8NStation de test sous pointes manuelle 8"

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

WL1160B-8NStation de test sous pointes RF manuelle 8"

Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application.

- Mesures DC jusqu'à 110 GHz
- Base massive pour une meilleure stabilité
- Chuck anti-résonnant
- Chuck pour substrat de calibration indépendant en rotation
- Levée rapide et réglage fin du plateau
- Microscope binoculaire / trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)
- Accepte jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

REFERENCES COURANTES

WL1160A : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
WL1160B : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
WL1160C : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

CM170Station de test sous pointes manuelle haute stabilité

Issue de la combinaison de deux modèles, la station CM170 assure stabilité et précision pour un prix modéré.

- Large plateau permettant d'accueillir des têtes millimétriques
- Applications multiples (optique, carte à pointes, HF...)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM170 : mesures DC à 100 MHz
WL170 : mesures DC à 110 GHz
WL170-THz : mmW jusqu'à 1.1 THz (chuck surélevé)

WL170-THzStation de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

Station spécialement conçue pour les applications ultra hautes fréquences, avec l'utilisation de têtes millimétriques (extenders).
Ce système permet de monter un micropositionneur avec un large plateau pouvant supporter les extenders des principaux fabricants (R&S, VDI...).

- Jusqu'à 1,1 Thz
- Chuck réhaussé
- Blocage en rotation
- Microscope à longue distance de travail

CM210Station de test sous pointes manuelle haute précision 8"

La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à 300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm

WL210Station de test sous pointes RF manuelle haute précision 8"

La série WaveLink représente les stations de tests sous pointes HF les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Non résonance de l'ensemble jusqu'à 500 GHz
- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Caractérisation en température optionnelle (-60°C à 300°C)
- Peut accueillir jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

RÉFÉRENCES COURANTES

WL210 : Version 200 mm
WL310 : Version 300 mm

WL210LEStation de test sous pointes RF manuelle haute précision 8" avec chambre locale

Cette station de test sous pointes est dérivée de la gamme Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesures en températures (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant.

- Mesures fA (faibles courants)
- Isolation lumineuse
- Blindage électrique
- Configurations : 4 ports HF ou 8 ports DC/Kelvin ou combinaison HF/DC
- Existe en 300mm
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)

FixtureBoxBoite noire pour mesures fortes puissances

Solution test fixture compacte pour mesures Haute-tensions (HV) et Fort-courants (HC)

- Mesures jusqu'à 10kV
- Compatibilité Keithley et Keysight
- Interlock de sécurité

D3Boite noire avec plateau

Spécialement conçue pour la mesure en température, cette boite noire type ''valise'' est munie d'un chuck (ambiant ou chauffant) ainsi que d'un plateau rond permettant de positionner plusieurs micropositionneurs magnétiques.

- Un microscope peut-être utilisé pour des motifs plus petits
- Une solution particulièrement économique pour une variété d'applications de test

A PROPOS DE NOS Stations manuelles

Elles permettent de tester sous pointes tout type de puce unitaire ou une série de puces sur plaquette entière ou partielle jusqu'à 300mm de diamètre.
• Mouvement manuel du plateau (chuck) et du microscope par molette
• Modèle entrée de gamme, économique multi-applications ou submicronique haute précision
• Configuration spécifique faible courant, forte puissance
• Configurable et upgradable avec choix d'options, chuck chauffant, triaxial, boite noire...
• Disponibles en version standard ou haute-fréquence

Stations économiques pour puces ou plaquettes jusqu'à 200mm pour géométries de motifs à partir de quelques microns
• Disponibles pour application standard et/ou pour application RF
• Acceptent un microscope de type binoculaire ou high power à tourelles
• Jusqu'à 10 positionneurs avec base à vide ou magnétique
• Chuck chauffant et chaud-froid sur demande
• Grand choix d'options permettant de personnaliser l'équipement retenu

Une gamme de stations de précision pour test sur plots ou sur lignes internes de faible dimension, accepte puce individuelle, plaquette partielle ou entière jusqu'à 300mm.
• Base massive haute stabilité pour un niveau de vibrations minimum sur table antivibratoire
• Configurations de plateau à vide standard, triax, chauffant, chaud/froid...
• Microscope intégré type à tourelle ou mono-objectif
• Accepte micropositionneurs haut de gamme
• Configurations sur mesure selon cahier des charges

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