STATIONS DE TEST SOUS POINTESStations manuelles

STATIONS DE TEST SOUS POINTES - Stations manuelles

Usage général
Submicroniques haute précision

Elles permettent de tester sous pointes tout type de puce unitaire ou une série de puces sur plaquette entière ou partielle jusqu'à 300mm de diamètre.
• Mouvement manuel du plateau (chuck) et du microscope par molette
• Modèle entrée de gamme, économique multi-applications ou submicronique haute précision
• Configuration spécifique faible courant, forte puissance
• Configurable et upgradable avec choix d'options, chuck chauffant, triaxial, boite noire...
• Disponibles en version standard ou haute-fréquence

DEMANDE D'INFORMATIONS

Usage général

Stations économiques pour puces ou plaquettes jusqu'à 200mm pour géométries de motifs à partir de quelques microns
• Disponibles pour application standard et/ou pour application RF
• Acceptent un microscope de type binoculaire ou high power à tourelles
• Jusqu'à 10 positionneurs avec base à vide ou magnétique
• Chuck chauffant et chaud-froid sur demande
• Grand choix d'options permettant de personnaliser l'équipement retenu

H150

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Station de test sous pointes manuelle

Station de tests sous pointes disponible en 3 versions différenciées par la méthode de positionnement du chuck et la précision associée.

- Système de levée rapide du plateau
- Accepte jusqu'à 6 micropositionneurs et une carte à pointes

S1160

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Station manuelle multi-applications

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

WL1160

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Station de tests manuelle RF

Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application.

- Mesures DC jusqu'à 110 GHz
- Base massive pour une meilleure stabilité
- Chuck anti-résonnant
- Chuck pour substrat de calibration indépendant en rotation
- Levée rapide et réglage fin du plateau
- Microscope binoculaire / trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)
- Accepte jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

REFERENCES COURANTES

WL1160A : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
WL1160B : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
WL1160C : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

MW-D3

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Boite noire avec chuck

Spécialement conçue pour la mesure en température, cette boite noire type ''valise'' est munie d'un chuck (ambiant ou chauffant) ainsi que d'un plateau rond permettant de positionner plusieurs micropositionneurs magnétiques.

- Un microscope peut-être utilisé pour des motifs plus petits
- Une solution particulièrement économique pour une variété d'applications de test

Submicroniques haute précision

Une gamme de stations de précision pour test sur plots ou sur lignes internes de faible dimension, accepte puce individuelle, plaquette partielle ou entière jusqu'à 300mm.
• Base massive haute stabilité pour un niveau de vibrations minimum sur table antivibratoire
• Configurations de plateau à vide standard, triax, chauffant, chaud/froid...
• Microscope intégré type à tourelle ou mono-objectif
• Accepte micropositionneurs haut de gamme
• Configurations sur mesure selon cahier des charges

CM170-WL170