ApplicationTESTS ELECTRIQUES DE COMPOSANTS EN BOITIER Test sous pointes d'un substrat non plat

Test sous pointes d'un substrat non plat

Ceci peut être réalisé à l'aide d'adaptateur maintenant le substrat par un procédé mécanique et fixé à un chuck à vide. L'ensemble est ensuite accessible par des pointes adaptées à la taille des plots. La station de test et son adaptateur sont étudiés en fonction des contraintes dimensionnelles et des spécificités de test.

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CM-BMC

Support de cartes PCB

Ce support de cartes PCB permet de fixer des cartes électroniques munies de composants sur une station de test sous pointes. Utile pour l'analyse de défaillances sur composants montés sur carte ou nécéssitant une circuiterie spécifique ...

S1160-x

Station manuelle multi-applications

• Taille wafer : Puce individuelle, wafer partiel, max 200 mm
• Déplacement X-Y du chuck : 200/300 mm

Station pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants... Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, faible courant...) Accepte microscope basique bino / trino ou multi-objectifs à tourellesElévation rapide du plateau par bras manuel (changement de plaquettes...)Options n...

Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

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