TESTS ELECTRIQUES DE COMPOSANTS EN BOITIERTest sous pointes d'un substrat non plat

S1160B-8NStation de test sous pointes manuelle 8"

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

CM-BMCSupport de carte PCB

Ce support de cartes PCB permet de fixer des cartes électroniques munies de composants sur une station de test sous pointes.

- Utile pour l'analyse de défaillances sur composants montés sur carte ou nécessitant une circuiterie spécifique

A PROPOS : Test sous pointes d'un substrat non plat

Ceci peut être réalisé à l'aide d'adaptateur maintenant le substrat par un procédé mécanique et fixé à un chuck à vide. L'ensemble est ensuite accessible par des pointes adaptées à la taille des plots. La station de test et son adaptateur sont étudiés en fonction des contraintes dimensionnelles et des spécificités de test.

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