TF map 2525SRSystème par courant de Foucault semi-automatique
La série TF map 2525 permet d'extraire automatiquement les caractéristiques intrinsèques d'échantillons jusqu'à 250 x 250mm (10 x 10 pouces) en mode sans contact et donc non destructeur.
Lors du positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement la distribution des propriétés sur toute la zone de l'échantillon. Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 50 000 points de mesure par échantillon.
La cartographie résultante donne un véritable aperçu de l'homogénéité et de la qualité des couches mesurées quelles soient transparentes ou opaques.
L'appareil compact permet, selon sa configuration, d'extraire de manière précise la résistance de surface, la résistivité, l'épaisseur ou encore l'anisotropie
Avantages:
- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure
Applications :
- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère
- Verre architectural revêtu
- Verre électrochrome intelligent, Smart Glass
Lors du positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement la distribution des propriétés sur toute la zone de l'échantillon. Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 50 000 points de mesure par échantillon.
La cartographie résultante donne un véritable aperçu de l'homogénéité et de la qualité des couches mesurées quelles soient transparentes ou opaques.
L'appareil compact permet, selon sa configuration, d'extraire de manière précise la résistance de surface, la résistivité, l'épaisseur ou encore l'anisotropie
Avantages:
- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure
Applications :
- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère
- Verre architectural revêtu
- Verre électrochrome intelligent, Smart Glass
