Mesures d'effet Hall et autres paramètres

Les appareils utilisent la loi de Van Der Pauw pour la mesure et le suivi de paramètres importants des couches semi-conductrices
• Résistivité
• Mobilité
• Concentration des porteurs
• Coefficient d'effet Hall
• Etc...

DEMANDE D'INFORMATIONS

HMS3000

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Système de mesure manuel par Effet Hall

Le HMS3000 est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall... Il utilise la méthode Van Der Pauw et permet de caractériser les couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires...

Il inclut :

- Socle aimant au choix : 0.55T et 1T (aimant variable possible)
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure à température ambiante et à 77K

Le HMS3000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs à 300K et 77K (température ambiante et température de l'azote liquide).

HMS5000

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Système de mesure par Effet Hall en température (semi-automatique)

Le modèle HMS5000 permet de caractériser un grand nombre d'échantillons possédant une couche semi-conductrice accessible par la méthode Van Der Pauw.
Cet appareil à source de courant constante et aimant permanent permet la mesure sur des couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires... de paramètres tels que résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

La configuration de base inclut :

- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation et contact sur l'échantillon par clip rapide
- Mesure en température

Le HMS5000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs à 350K et 77K (température de l'azote liquide).

HMS5300

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Système de mesure par Effet Hall hautes températures (semi-automatique)

Le modèle HMS5300 est un complément au système HMS5000 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 570K

Le HMS5300 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.

HMS5500

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Système de mesure par Effet Hall très hautes températures (semi-automatique)

Le modèle HMS5500 est un complément aux systèmes HMS5000-5300 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 770K

Le HMS5500 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.

HMS7000

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Système de mesure Photonique par Effet Hall en température

Le modèle HMS7000 permet de mesurer divers paramètres en utilisant la mesure par Effet Hall, en fonction d'une longueur d'onde (RGB).
ll utilise la méthode Van Der Pauw et permet de caractériser les couches semi-conductrices, compound, cellules solaires...

Sont inclus :

- Logiciel + traçage de courbe I-V, R-V pour vérification des contacts ohmiques
- Socle aimant permanent 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide
- Gestion de la température
- Option illumination LED RGB

Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

Catégories de produits

CARACTERISATION DE COUCHES

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