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Activité / Expertises
Produits
CARACTERISATION DE COUCHES
Systèmes de mesures 4 pointes
Systèmes de mesures par Effet Hall
Systèmes de mesures non destructif
Systèmes d'analyse de matériaux
Systèmes de mesures par contact Mercure
Platines chauffantes
TESTS ET BURN IN DES COMPOSANTS
Sockets de test et burn in
Cartes de burn in
PROCEDES BACK-END
Machines d'encollage de wafers sur film
Machines de découpe
Scribers
Machines d'expansion de film
Machines d'insolation UV
Die Bonders
Wire Bonders
Consommables pour back-end
TEST SOUS POINTES
Stations de tests sous pointes
Accessoires de tests
Pointes et sondes de tests
Applications
CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES
Mesures 4 pointes
Mesures d'effet Hall et autres paramètres
Mesures par contact Mercure
Croissance de couche électronique par RTP (Rapid Thermal Processor)
CONTRÔLE D'INSTRUMENTATION
Logiciels de contrôle d'instruments
TESTS SOUS POINTES
Mesures IV/CV & Analyse de défaillance
Tests à très faible courant
Mesures en forte puissance
Test sous pointes en gamme HF & Microwave
Mesures sous pointes et sous vide
Carte à pointes & Mapping
TESTS ELECTRIQUES DE COMPOSANTS EN BOITIER
Test d'un nouveau composant en boitier
Burn in de composants pour tests de fiabilité
Accès à la puce d'un composant en boitier
Test sous pointes d'un substrat non plat
DECOUPE DES SUBSTRATS SEMI-CONDUCTEURS
Encollage de film sur plaquette et frame
Expansion de film après découpe
Découpe de wafers et autres matériaux
Insolation de film UV après découpe
Contact
Application
CARACTERISATION DES COUCHES ELECTRONIQUES
Mesures d'effet Hall et autres paramètres
Mesures d'effet Hall et autres paramètres
Les appareils utilisent la loi de Van Der Pauw pour la mesure et le suivi de paramètres importants des couches semi-conductrices
• Résistivité
• Mobilité
• Concentration des porteurs
• Coefficient d'effet Hall
• Etc...
DEMANDE D'INFORMATIONS
HMS3000
Voir la Fiche Produit
Système de mesure manuel par Effet Hall
Le HMS3000 est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall... Il utilise la méthode Van Der Pauw et permet de caractériser les couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires...
Modèle # EVM-100 Kit d'aimants Tesla variables - Modification facile de l'intensité du champ dans la plage de 0,25 T à 0.9 T
Champ : 0,25 ~ 0,9 T (+/-0,03 T) à température ambiante
Champ : 0,25 ~ 0,5 T (+/-0,03 T) à température ambiante et 77 K
Inclus :
- Porte-échantillon à clip facile de 5*5mm à 25x25 mm
- Mesure à deux températures, ambiante (t° ambiante) et 77K
- Aimant
- Chambre LN2 avec entonnoir
- Échantillon de référence ITO
- Câble de mesure
- Porte-échantillons SPCB différents selon l'application
Le HMS3000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs à 300K et 77K (température ambiante et température de l'azote liquide).
HMS5000
Voir la Fiche Produit
Système de mesure par Effet Hall en température (semi-automatique)
Le modèle HMS5000 permet de caractériser un grand nombre d'échantillons possédant une couche semi-conductrice accessible par la méthode Van Der Pauw.
Cet appareil à source de courant constante et aimant permanent permet la mesure sur des couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires... de paramètres tels que résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
La configuration de base inclut :
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation et contact sur l'échantillon par clip rapide
- Mesure en température
Le HMS5000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs à 350K et 77K (température de l'azote liquide).
HMS5300
Voir la Fiche Produit
Système de mesure par Effet Hall hautes températures (semi-automatique)
Le modèle HMS5300 est un complément au système HMS5000 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 570K
Le HMS5300 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.
HMS5500
Voir la Fiche Produit
Système de mesure par Effet Hall très hautes températures (semi-automatique)
Le modèle HMS5500 est un complément aux systèmes HMS5000-5300 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 770K
Le HMS5500 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.
HMS7000
Voir la Fiche Produit
Système de mesure Photonique par Effet Hall en température
Le modèle HMS7000 permet de mesurer divers paramètres en utilisant la mesure par Effet Hall, en fonction d'une longueur d'onde (RGB).
ll utilise la méthode Van Der Pauw et permet de caractériser les couches semi-conductrices, compound, cellules solaires...
Sont inclus
:
- Logiciel + traçage de courbe I-V, R-V pour vérification des contacts ohmiques
- Socle aimant permanent 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide
- Gestion de la température
- Option illumination LED RGB