Notre famille de produits 1 : Equipements et accessoires pour caractérisation électrique des matériaux semi-conducteurs
De nouveau produits arrivent : Conditionneur thermique pour test en température, appareil 4 pointes avec logiciel évolutif…
Le système de base se compose d'une potence de maintien de la tête de tests avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer jusqu'à 4 pouces, le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa me...
Appareils pour labos, Recherche et petite production, positionnement de l'échantillon et mise en contact des pointes manuels, mesure manuelle ou automatique selon version. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley (fourni ou pas selon version)Le système utili...
Gamme de mesure de 1 mohm à 8E11ohm/carré, mesures 1pt, 5 pts ou cartographie pour ce système semi-automatique, cartographie et analyse jusqu'à 6000 points. Gamme de mesure standard et étendue, stockage et récupération des valeurs de mesure, fonctions de recherche de résultats évoluéesCartographies de mesure polaires ou rectangulaires, jusqu'à 650 points de mesure, scan de diamètre,...
Ce système est un dérivé du système de mesure PRO4 dans une version semi-automatique (ou manuel) et pour diverses gammes de résistivité, faible et haute résistivité (jusqu'à 10 Gohm/sq). Un contrôleur en température et un logiciel optionnel permet une gestion du coefficient TCRAdapté aux applications Recherches sur matériaux semi-conducteurs ...
Le système de résistivité portable permet la mesure sur différents matériaux de taille variable, grâce à son fonctionnement sur pile, il peut être utilisé partout. 4 modèles/gammes de mesure disponibles avec calibrateur adaptéTête 4 pointes interchangeableApplications : Conductivité/résistivité de couches sur panneaux de grandes dimensions, fuselages, carrosseries... ou en mesure ...
Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes Certification NIST valable 1 an...
Le système de base se compose d'une potence de maintien de la tête de tests avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer jusqu'à 4 pouces, le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa me...
Appareils pour labos, Recherche et petite production, positionnement de l'échantillon et mise en contact des pointes manuels, mesure manuelle ou automatique selon version. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley (fourni ou pas selon version)Le système utili...
Gamme de mesure de 1 mohm à 8E11ohm/carré, mesures 1pt, 5 pts ou cartographie pour ce système semi-automatique, cartographie et analyse jusqu'à 6000 points. Gamme de mesure standard et étendue, stockage et récupération des valeurs de mesure, fonctions de recherche de résultats évoluéesCartographies de mesure polaires ou rectangulaires, jusqu'à 650 points de mesure, scan de diamètre,...
Ce système est un dérivé du système de mesure PRO4 dans une version semi-automatique (ou manuel) et pour diverses gammes de résistivité, faible et haute résistivité (jusqu'à 10 Gohm/sq). Un contrôleur en température et un logiciel optionnel permet une gestion du coefficient TCRAdapté aux applications Recherches sur matériaux semi-conducteurs ...
Le système de résistivité portable permet la mesure sur différents matériaux de taille variable, grâce à son fonctionnement sur pile, il peut être utilisé partout. 4 modèles/gammes de mesure disponibles avec calibrateur adaptéTête 4 pointes interchangeableApplications : Conductivité/résistivité de couches sur panneaux de grandes dimensions, fuselages, carrosseries... ou en mesure ...
Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes Certification NIST valable 1 an...
ACCESSOIRES POUR STATIONS DE TEST
MATERIELS DE CARACTERISATION DE COUCHES MINCES
PRODUITS POUR TEST ET BURN IN DES COMPOSANTS
5 rue de la Verrerie
38120 Le Fontanil-Cornillon
Grenoble / France
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