Ensemble d'équipements permettant de mesurer la résistivité de surface des couches minces en ohm/carré ou ohm.cm, mode manuel ou automatique, cartographie • Modèles manuels basiques ou plus évolués avec logiciel de mesure, systèmes portables • Modèles semi-automatiques pour plaquettes jusqu'à 300 mm, avec cartographie (mapping) • Choix de têtes de mesure 4 pointes en ligne • Option température
Stand de mesure 4 pointes
S302
Stand de mesure 4 pointes

Le système de base se compose d'une potence de maintien de la tête de tests avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer jusqu'à 4 pouces, le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa me...

Système de mesure 4 pointes manuel évolutif - DUPLICATE FROM 84
PRO4_temp
Système de mesure 4 pointes manuel évolutif - DUPLICATE FROM 84

Appareils pour labos, Recherche et petite production, positionnement de l'échantillon et mise en contact des pointes manuels, mesure manuelle ou automatique selon version. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley (fourni ou pas selon version)Le système utili...

Système de mesure 4 pointes manuel évolutif
PRO4
Système de mesure 4 pointes manuel évolutif

Appareils pour labos, Recherche et petite production, positionnement de l'échantillon et mise en contact des pointes manuels, mesure manuelle ou automatique selon version. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley (fourni ou pas selon version)Le système utili...

Système de mesure 4 pointes semi-automatique
280I
Système de mesure 4 pointes semi-automatique

Gamme de mesure de 1 mohm à 8E11ohm/carré, mesures 1pt, 5 pts ou cartographie pour ce système semi-automatique, cartographie et analyse jusqu'à 6000 points. Gamme de mesure standard et étendue, stockage et récupération des valeurs de mesure, fonctions de recherche de résultats évoluéesCartographies de mesure polaires ou rectangulaires, jusqu'à 650 points de mesure, scan de diamètre,...

Système de mesure 4 pointes semi-automatique évolutif
QUADPRO
Système de mesure 4 pointes semi-automatique évolutif

Ce système est un dérivé du système de mesure PRO4 dans une version semi-automatique (ou manuel) et pour diverses gammes de résistivité, faible et haute résistivité (jusqu'à 10 Gohm/sq). Un contrôleur en température et un logiciel optionnel permet une gestion du coefficient TCRAdapté aux applications Recherches sur matériaux semi-conducteurs ...

SRM - Système de mesure 4 pointes portable
SRM232-XX
SRM - Système de mesure 4 pointes portable

Le système de résistivité portable permet la mesure sur différents matériaux de taille variable, grâce à son fonctionnement sur pile, il peut être utilisé partout. 4 modèles/gammes de mesure disponibles avec calibrateur adaptéTête 4 pointes interchangeableApplications : Conductivité/résistivité de couches sur panneaux de grandes dimensions, fuselages, carrosseries... ou en mesure ...

Wafer de calibration
SRS3
Wafer de calibration

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes Certification NIST valable 1 an...

Cette série d'appareils convient aux laboratoires de caractérisation, les modèles proposés sont soit totalement manuels avec un stand porte-tête 4 pointes et une sortie fils libre vers l'instrumentation, soit plus complets incluant le logiciel sur pc et optionnellement l'appareil de mesure • Trois configurations pour répondre à tous les budgets • Adaptables pour wafers jusqu'à 200 mm • Option température pour mesure de certains matériaux
Stand de mesure 4 pointes
S302
Stand de mesure 4 pointes

Le système de base se compose d'une potence de maintien de la tête de tests avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer jusqu'à 4 pouces, le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa me...

Système de mesure 4 pointes manuel évolutif
PRO4
Système de mesure 4 pointes manuel évolutif

Appareils pour labos, Recherche et petite production, positionnement de l'échantillon et mise en contact des pointes manuels, mesure manuelle ou automatique selon version. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley (fourni ou pas selon version)Le système utili...

Système de mesure 4 pointes manuel évolutif - DUPLICATE FROM 84
PRO4_temp
Système de mesure 4 pointes manuel évolutif - DUPLICATE FROM 84

Appareils pour labos, Recherche et petite production, positionnement de l'échantillon et mise en contact des pointes manuels, mesure manuelle ou automatique selon version. Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contactLa mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley (fourni ou pas selon version)Le système utili...

Les appareils semi-automatiques sont prévus pour tester une plaquette entière jusqu'à 300 mm de diamètre avec plusieurs cartographies possible afin de déterminer la moyenne et l'écart-type des valeurs de résistivité obtenues. Le chargement est manuel, les déplacements X-Y-Z et le contrôle de la mesure sont automatiques • Plusieurs cartographies possible, rectangulaires, polaires... • Mode personnalisé permettant de mesurer sur des points précis définis par l'utilisateur • Gamme de courant automatique • Logiciel très complet de mesure et de gestion des cartographies et valeurs mesureées • SPC, graphe 3D...
Système de mesure 4 pointes semi-automatique
280I
Système de mesure 4 pointes semi-automatique

Gamme de mesure de 1 mohm à 8E11ohm/carré, mesures 1pt, 5 pts ou cartographie pour ce système semi-automatique, cartographie et analyse jusqu'à 6000 points. Gamme de mesure standard et étendue, stockage et récupération des valeurs de mesure, fonctions de recherche de résultats évoluéesCartographies de mesure polaires ou rectangulaires, jusqu'à 650 points de mesure, scan de diamètre,...

Système de mesure 4 pointes semi-automatique évolutif
QUADPRO
Système de mesure 4 pointes semi-automatique évolutif

Ce système est un dérivé du système de mesure PRO4 dans une version semi-automatique (ou manuel) et pour diverses gammes de résistivité, faible et haute résistivité (jusqu'à 10 Gohm/sq). Un contrôleur en température et un logiciel optionnel permet une gestion du coefficient TCRAdapté aux applications Recherches sur matériaux semi-conducteurs ...

Standards de calibration pour vérification et ajustage des appareils de mesure 4 pointes, disponibles en wafer avec plusieurs valeurs de résistivité
Wafer de calibration
SRS3
Wafer de calibration

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes Certification NIST valable 1 an...

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