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APPLICATION : Mesures d'effet Hall et autres paramètres

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A PROPOS : Mesures d'effet Hall et autres paramètres
Les appareils utilisent la loi de Van Der Pauw pour la mesure et le suivi de paramètres importants des couches semi-conductrices
• Résistivité
• Mobilité
• Concentration des porteurs
• Coefficient d'effet Hall
• Etc...
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