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CATEGORIE : TESTS ET BURN IN DES COMPOSANTS

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A PROPOS DE NOS TESTS ET BURN IN DES COMPOSANTS
Microworld propose un large choix de Sockets de tests pour réaliser des mesures électriques et de vieillissement prématurés sur puces encapsulées (boitiers).

Du Socket simple type BGA, QFN, LCC, SOT, DFN ... à la carte de Burn In.
Nous proposons également des sockets plus complexes et personnalisés pour répondre à votre besoin.

Pourquoi choisir Microworld ? Une équipe à l'écoute de vos besoins, 30 ans d'expérience dans le domaine. Des partenaires reconnut dans le monde du semi-conducteur. Des sockets de tests adaptés pour tous types de tests haute puissance, haute température, haute fréquence, Kelvin, non-magnétique ...

Applications :

- Tests personnalisés
- Nanotechnologie
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- Aéronautique
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