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La série TF map 2530 mesure automatiquement la résistance de couche de grands échantillons jusqu'à 300 x 300 mm (12 x 12 pouces) en mode sans contact.
Après un positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement une cartographie précise de la résistance de la couche sur toute la zone de l'échantillon.
Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 100 000 points de mesure.

Le TF map 2530, qui existe en plusieurs version, permet des mesures de:

- Résistance de surface
- Résistivité
- Épaisseur
- Anisotropy

Avantages:

- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure


Applications :

- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère