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L'EddyCus map 2530 TM mesure automatiquement la résistance de surface d'échantillons de grande taille, jusqu'à 300 × 300 mm² (12 × 12 pouces), en mode sans contact. Après le positionnement manuel de l'échantillon, le système effectue un balayage entièrement automatisé et génère une cartographie haute résolution de la résistance de surface sur toute la surface.

L'outil utilise un capteur à courants de Foucault stationnaire, tandis que la platine porte-échantillon se déplace pour permettre le balayage. Cette conception permet des mesures instantanées, sans contact physique, éliminant ainsi les erreurs dues à la résistance de contact. Selon les paramètres sélectionnés, les utilisateurs peuvent privilégier des temps de mesure rapides (moins d'une minute) ou une haute résolution spatiale (jusqu'à 90 000 points de mesure par balayage).

La mesure sans contact garantit une précision et une répétabilité élevées, indépendamment de l'état de surface ou de la qualité du contact. La grille de mesure dense permet une détection fiable des variations de matériau, des inhomogénéités et des défauts. Le logiciel fourni offre une large gamme d'outils d'analyse avancés, permettant un contrôle qualité systématique des couches minces en production et en recherche.

L'appareil est généralement utilisé pour :
- Technologie : courants de Foucault sans contact
- Imagerie par cartographie multipoint
- Zone d'échantillonnage : 300 × 300 mm
- Tailles d'échantillons recommandées : de 25 à 300 mm (1 à 12 pouces)

L'EddyCus map 2530, disponible en plusieurs versions, permet de mesurer :
- La résistance de surface
- La résistivité
- L'épaisseur
- L'anisotropie
- L'émissivité

Avantages :
- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure

Applications :
- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère