Demande spécifique


APPLICATION : Mesures 4 pointes - Automatique avec cartographie

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A PROPOS : Automatique avec cartographie
Mesurer la résistivité de surface sur une plaquette entière ou partielle, afficher une cartographie (mapping) et des paramètres moyenne écart-type...avec des graphes 3D.
• Permet de connaitre l'homogénéité de résultats ou la dispersion sur une surface semi-conductrice ainsi que les moyennes des valeurs et écart-type
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