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APPLICATION : 4-Point Probing - Automatic with Mapping

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ABOUT : Automatic with Mapping
Mesurer la résistivité de surface sur une plaquette entière ou partielle, tirer une cartographie (mapping) et des paramètres moyenne écart-type...avec des graphes 3D.
Permet de connaitre l'homogénéité de résultats ou la dispersion sur une surface semi-conductrice_UK
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