A PROPOS DE NOS Stations de tests sous pointes
Nos équipements de tests vous permettront de répondre à toutes les spécifications techniques simples comme exigeantes. Qu'elle que soit l'application, la caractérisation de puce, le débug, l'analyse de défaillance ou le développement de processus industriel et R&D. Les stations sous pointes manuelles et semi-automatiques sont à la fois polyvalentes, précises. De la mesure standard à la mesure d'hyperfréquence ou bien haute température pour répondre aux exigences de la microélectronique.
Applications :
- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Test RF : Antenne, réseauteur ...
- Circuit imprimé (Analyse de défaillance)
- Nanomatériaux
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
Spécifications :
• Mesures IV et CV
• Mesures HV (10KV)
• Mesures faibles courant fA
• Mesures hyperfréquences (1THz millimétrique)
• Chuck thermiques (chaud/froid : -196°C à 1000°C)
• Microscopie
• Isolation lumineuse et vibrations
• Pointes et sondes de tests
• Micropositionneurs dédiés pour chaque application
