A PROPOS DE NOS Systèmes semi-automatiques
Les séries TFMap permettent d'extraire automatiquement les caractéristiques intrinsèques d'échantillons jusqu'à 250 x 250mm (10 x 10 pouces) en mode sans contact et donc non destructeur.
Les résultats de mesure, affichés sous forme de cartographie, donnent un véritable aperçu de l'homogénéité et de la qualité de la couche.
Ces systèmes compacts permettent, selon leur configuration, d'extraire de manière précise la résistance de surface, la résistivité, l'épaisseur ou encore l'anisotropie de différent matériaux.
Avantages :
• Mesure sans contact
• Non destructif
• Mesure rapide et précise
• Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
• Imagerie de substrats
• Détection des défauts et analyse des revêtements
• Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
• Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
• Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure
Applications :
- Fines couches de revêtement
- Films conducteurs
- Papiers et textiles conducteurs
- Composants encapsulés
- Métaux
- Capteurs photoélectrique
- Conducteurs organiques
- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafers et cellules photovoltaïques
- Électrodes de batterie
- Polymères conducteur
