TESTS ET BURN IN DES COMPOSANTSSockets de test et burn in

DO      Socket de test pour boitier DO

DO : Socket de test pour boitier DO

Référence

DO

Désignation

Socket de test pour boitier DO

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Description

Supports de test pour tous boitiers DO, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Designs de serrage par vis, ClamShell, Open Top ...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

Spécifications techniques

Température maximum

150 std, 250 (option) °C

Espacement des contacts (pitch)

Supérieur à 0,22 mm

Montage sur pcb

SMD, traversant, billes...

Options

Non-magnetique, radiateur, force insertion nulle...

Fermeture

Par capot, pression, à vis, autre...

Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

5 rue de la Verrerie

38120 Le Fontanil-Cornillon

Grenoble / France

Fax : +33(0) 476 757 484

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