TF map 2525SR      Système par courant de Foucault semi-automatique

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

TF map 2525SR      Système par courant de Foucault semi-automatique

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

Référence

TF map 2525SR

Désignation

Système par courant de Foucault semi-automatique

Description

La série TF map 2525 mesure automatiquement la résistance de couche de grands échantillons jusqu'à 254 x 254 mm² (10 x 10 pouces) en mode sans contact.
Après un positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement une cartographie précise de la résistance de la couche sur toute la zone de l'échantillon.
Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 1 000 000 points de mesure.

Avantages de ce système :

- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure

Spécifications techniques

Taille du wafer

Inclus mm2

Gamme de résistivité

0.001 à 100 ohms/sq Ohm/sq

Type de mouvement

Semi-automatique

Logiciel

Inclus

SMU

Interne

Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial. +33 (0)476 561 617

5 rue de la Verrerie

38120 Le Fontanil-Cornillon

Grenoble / France

Fax : +33(0) 476 757 484

RCS Grenoble B 381 001 171 - APE 4652Z

TVA FR 48 381 001 171