CARACTERISATION DE COUCHESSystèmes de mesures non destructifSystèmes manuels

TF lab Système manuel de mesure de résistivité sans contact

Référence

TF lab

Désignation

Système manuel de mesure de résistivité sans contact

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Description

Le système EddyCus® lab 2020 SR est un système de bureau compact conçu pour les mesures sans contact et en un seul point de couches minces conductrices, d'épaisseurs de couches métalliques et de résistances de surface par courants de Foucault. Il permet des mesures rapides et précises d'échantillons jusqu'à 200 x 200 mm (8 x 8 pouces) et est compatible avec une large gamme de matériaux, notamment les couches métalliques minces, les wafers dopées et les polymères conducteurs.

L'EddyCus® lab 2020 offre une alternative moderne et sans contact aux méthodes traditionnelles de mesure par contact (4PP et autres méthodes par contact). Contrairement aux systèmes 4PP, il ne nécessite aucun contact physique, aucune préparation de surface et est insensible aux encapsulations et à la rugosité de surface. Pour en savoir plus, consultez la comparaison entre les méthodes par courants de Foucault et 4PP.

Ces avantages font de l'EddyCus® lab 2020 un excellent choix pour les laboratoires de R&D, le contrôle qualité et la surveillance des procédés, où la rapidité, la répétabilité et les essais non destructifs sont essentiels.

L'EddyCus® lab 2020, disponible en plusieurs versions, permet de mesurer :

- la résistance de surface
- la résistivité
- l'épaisseur des couches métalliques
- la conductivité
- l'anisotropie
- l'émissivité

Avantages :

- Mesure non destructive
- Mesure ultra-rapide, sans contact et en temps réel
- Mesure précise des couches conductrices minces à différentes profondeurs de pénétration
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Logiciel convivial et affichage des résultats en temps réel

Applications :

- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère
- Verre architectural revêtu
- Verre électrochrome intelligent, Smart Glass

DOCUMENTS

TF lab 2020SR eddy current tester (pdf)

Spécifications techniques

Technologie de mesure

Sans contact courant de Foucault

Taille de l'échantillon

Max 204 x 204 mm

Gamme de résistance surfacique

0,1 à 10 Ohm/sq

Type de mouvement

Manuel

Logiciel

Inclus

SMU

Interne

Ordinateur

Non inclus (optionel)

Connexion

Ethernet

Dimensions

290 x 445 x 140 mm

Poids

10 Kg

Produits associés

TF portableSystème par courant de Foucault portable

Le système TF portable 1010 est un appareil de mesure compact et portable pour la mesure de résistivité sur de grandes surfaces. Il permet de caractériser par contact rapide de grandes surface conductrices.
Le système utilise la méthode des courants de Foucault. Cette méthode permet de faire des mesures non destructives. Il est possible de mesurer des échantillons et composants encapsulés grâce a ces courants faible qui pénètrent les couches non conductrices tel que les oxydes ou tout autres revêtements.
Le TF Portable 1010 est un appareil facile à utiliser et contrôlé via un écran tactile. Compact, il permet, selon sa configuration, d'extraire de manière précise la résistance de surface, la résistivité, l'épaisseur ou encore l'anisotropie d'un matériau

Avantages :

- Appareil de mesure compact et portable
- Mesure manuelle
- Mesure instantanée en direct
- Collecte de données numériques et transmission de données via Bluetooth
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées

Application:

- Verre architectural (LowE)
- Revêtements miroir
- Couches réfléchissantes
- Feuilles d'emballage
- Couches d'électrodes en verre intelligent / électrochrome et stockage d'énergie
- Électrodes de batterie
- Papier conducteur et textiles conducteurs
- Polymère conducteur

TF map 2530Système par courant de Foucault semi-automatique

L'EddyCus map 2530 TM mesure automatiquement la résistance de surface d'échantillons de grande taille, jusqu'à 300 × 300 mm² (12 × 12 pouces), en mode sans contact. Après le positionnement manuel de l'échantillon, le système effectue un balayage entièrement automatisé et génère une cartographie haute résolution de la résistance de surface sur toute la surface.

L'outil utilise un capteur à courants de Foucault stationnaire, tandis que la platine porte-échantillon se déplace pour permettre le balayage. Cette conception permet des mesures instantanées, sans contact physique, éliminant ainsi les erreurs dues à la résistance de contact. Selon les paramètres sélectionnés, les utilisateurs peuvent privilégier des temps de mesure rapides (moins d'une minute) ou une haute résolution spatiale (jusqu'à 90 000 points de mesure par balayage).

La mesure sans contact garantit une précision et une répétabilité élevées, indépendamment de l'état de surface ou de la qualité du contact. La grille de mesure dense permet une détection fiable des variations de matériau, des inhomogénéités et des défauts. Le logiciel fourni offre une large gamme d'outils d'analyse avancés, permettant un contrôle qualité systématique des couches minces en production et en recherche.

L'appareil est généralement utilisé pour :
- Technologie : courants de Foucault sans contact
- Imagerie par cartographie multipoint
- Zone d'échantillonnage : 300 × 300 mm
- Tailles d'échantillons recommandées : de 25 à 300 mm (1 à 12 pouces)

L'EddyCus map 2530, disponible en plusieurs versions, permet de mesurer :
- La résistance de surface
- La résistivité
- L'épaisseur
- L'anisotropie
- L'émissivité

Avantages :
- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure

Applications :
- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère