MW-DBBoite noire personnalisée
- Isolation électrique et lumineuse
- Sécurité utilisateur pour utilisation en haute tension
- Panneaux de connecteurs traversants
- Passage de câble col de cygne
- Taille et design sur demande
Référence
S1160B-8N
Désignation
Station de test sous pointes manuelle 8"
Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).
- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité
REFERENCES COURANTES
S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom
Taille de l'échantillon
200 mm
Maintien de l'échantillon
Anneaux de vide, réglage par zones
Mouvement du chuck
Manuel
Déplacement X-Y du chuck
200 mm
Matériau du chuck
Nickel
Résolution
<1μm (0,001mm) @ 250μm/tour
Déplacement Z du chuck
Non
Réglage de planéité du chuck
Oui
Planéité
< 10 µm
Réglage théta
360 Degrés
Bloquage en rotation
Non
Ajustement Z du plateau
38 mm
Manette contact/non contact du plateau
10 mm avec une répétabilité de +/- 1 µm
Matériau du plateau
Acier pour micropositionneurs à vide ou magnétique
Déplacement X-Y du pont optique
X-Y 50x50mm - Résolution 10µm