CARACTERISATION DE COUCHESSystèmes d'analyse de matériauxProfilomètres optiques

MW-TopMap-Pro.Surf Profilomètre de planéité 3D

Référence

MW-TopMap-Pro.Surf

Désignation

Profilomètre de planéité 3D

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Description

Les profilomètres optiques TopMap Pro.Surf et Pro.Surf sont prêts pour la production et permettent des mesures de contrôle qualité traçables et ultra-rapides. Ils analysent les paramètres de forme 3D et la planéité avec une répétabilité optimale, en capturant environ 2 millions de points de données en quelques secondes.

L'immense champ unique de 44 x 33 mm garantit une précision maximale, tandis que la technologie True Stitching assure des données précises jusqu'à 230 x 220 mm. La reconnaissance automatique des formes permet des mesures multi-échantillons rapides et efficaces, sans montage mécanique. L'optique télécentrique permet d'atteindre les zones en retrait et les surfaces internes, avec des décalages jusqu'à 70 mm. Cet interféromètre à balayage de cohérence (CSIT) intègre la technologie SST Smart Scanning pour des mesures continues sur presque tous les matériaux, avec une seule technologie, et gère parfaitement les variations de réflectivité.

Le large éventail de routines d'analyse permet une évaluation simple et conforme aux normes ISO des paramètres de rugosité et de forme. La gestion intégrée des recettes simplifie les inspections de routine et garantit la cohérence des mesures, tandis que les opérations en un clic accélèrent l'analyse de conformité en atelier. L'accessoire FTP unique mesure la planéité, l'épaisseur et le parallélisme en effectuant une mesure simultanée des surfaces supérieure et inférieure d'un échantillon. Pour les environnements bruyants et perturbés, la technologie brevetée de compensation environnementale ECT garantit une mesure stable.

Spécifications techniques

Méthode de mesure

Coherence scanning interferometry

Gamme de mesure en Z

70 mm

Surface de mesure

200 x 200 mm

Bruit de mesure

< 0,5 nm

Résolution

0,01 nm

Déviance de planéité

< 75 nm

Répétabilité de mesure de planéité

< 5 nm

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