MW-TopMap-Micro.View      Profilomètre de rugosité 3D

MW-TopMap-Micro.View : Profilomètre de rugosité 3D MW-TopMap-Micro.View : Profilomètre de rugosité 3D

Référence

MW-TopMap-Micro.View

Désignation

Profilomètre de rugosité 3D

Description

Le TopMap Micro.View® est un profilomètre optique compact et facile d'utilisation. Cet interféromètre à balayage de cohérence allie performances exceptionnelles et prix abordable.

Sa large plage de mesure Z de 100 mm, associée à la technologie de balayage continu (CST), permet de mesurer les microstructures et les textures de surfaces de précision avec une résolution subnanométrique. Son format compact, idéal pour une utilisation sur table, intègre une électronique performante et un système de mise au point avancé qui simplifie et accélère les mesures.

Bénéficiez de la technologie de compensation environnementale ECT (en option) pour des résultats de mesure fiables et précis, même dans des environnements de production bruyants et difficiles. L'ajout de l'objectif TopMap 0,6x vous permet d'étendre vos capacités pour des mesures de forme haute résolution. Le système de mise au point avancé simplifie et accélère les mesures.

Le Micro.View® est l'instrument de contrôle qualité économique idéal pour l'inspection des surfaces de précision, la mesure de la rugosité et la microtopographie dans les secteurs de la production et de la recherche.

Spécifications techniques

Méthode de mesure

Coherence scanning interferometry

Gamme de mesure en Z

100 mm

Surface de mesure

100 x 100 mm

Bruit de mesure

< 0,6 nm

Résolution

0,01 nm

Répétabilité de topographie de surface

< 0,2 nm

Déviance de planéité

< 5 nm

Répétabilité de mesure de planéité

< 0,5 nm

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