TEST SOUS POINTESStations de tests sous pointesStations manuelles

WL170-THz Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

Référence

WL170-THz

Désignation

Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

APPLICATIONS

Test sous pointes en gamme HF & Microwave

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Description

Station spécialement conçue pour les applications ultra hautes fréquences, avec l'utilisation de têtes millimétriques (extenders).
Ce système permet de monter un micropositionneur avec un large plateau pouvant supporter les extenders des principaux fabricants (R&S, VDI...).

- Jusqu'à 1,1 Thz
- Chuck réhaussé
- Blocage en rotation
- Microscope à longue distance de travail

DOCUMENTS

WL170-THz brochure (pdf)

Spécifications techniques

Taille de l'échantillon

N/A

Maintien de l'échantillon

Trous de vide, réglage par zones

Déplacement X-Y du chuck

200 mm

Matériau du chuck

Nickel

Résolution

<1μm (0,001mm) @ 250μm/tour

Réglage de planéité du chuck

Oui

Planéité

< 10 µm

Réglage théta

360° rapide et 12° fin

Bloquage en rotation

Oui

Ajustement Z du plateau

38mm avec blocage

Manette contact/non contact du plateau

4 mm avec une répétabilité de +/- 1 µm

Matériau du plateau

Acier pour micropositionneurs à vide ou magnétique

Déplacement X-Y du pont optique

X-Y 50x50mm - Résolution 2µm

Dégagement du microscope

100mm vertical - Pneumatique

Chuck réhaussé

Oui

Chuck de calibration

1 chuck de calibration avec réglage angulaire indépendant

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- Recommandation pour une configuration GSG pour de meilleures performances
- Faible perte et faible dispersion, contact de faible résistance
- WR-1.0 waveguide, Bias T optionnel
- Disponible en BeCu