WL170-THz      Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

WL170-THz : Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité WL170-THz : Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité
WL170-THz : Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité WL170-THz : Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

Référence

WL170-THz

Désignation

Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

Description

Station spécialement conçue pour les applications ultra hautes fréquences, avec l'utilisation de têtes millimétriques (extenders).
Ce système permet de monter un micropositionneur avec un large plateau pouvant supporter les extenders des principaux fabricants (R&S, VDI...).


- Jusqu'à 1,1 Thz
- Chuck réhaussé
- Blocage en rotation
- Microscope à longue distance de travail

Spécifications techniques

Taille de l'échantillon

N/A

Maintien de l'échantillon

Trous de vide, réglage par zones

Déplacement X-Y du chuck

200 mm

Matériau du chuck

Nickel

Résolution

<1μm (0,001mm) @ 250μm/tour

Réglage de planéité du chuck

Oui

Planéité

< 10 µm

Réglage théta

360° rapide et 12° fin

Bloquage en rotation

Oui

Ajustement Z du plateau

38mm avec blocage

Manette contact/non contact du plateau

4 mm avec une répétabilité de +/- 1 µm

Matériau du plateau

Acier pour micropositionneurs à vide ou magnétique

Déplacement X-Y du pont optique

X-Y 50x50mm - Résolution 2µm

Dégagement du microscope

100mm vertical - Pneumatique

Chuck réhaussé

Oui

Chuck de calibration

1 chuck de calibration avec réglage angulaire indépendant

Produits associés

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Ce micropositionneur est spécifiquement conçu pour recevoir des pointes multicontact de configuration coplanaire, il dispose de déplacements de 25mm sur chaque axe et d'un système de prévention de mouvement intempestif de la pointe (cross roller bearing).

- Ultra-stable avec fixation par vis sur le plateau (option base magnétique).
- Molette de réglage de coplanarité pour les pointes multicontact (GS, GSG, GSGSG, ...).
- Disponible avec différentes orientations pour montage de la tête RF (Nord, Sud, Est, Ouest).
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Série de substrats de calibration pour sondes RF, permettant une mesure très précise.

- Configurations GSG, GS, SG ou dual (GSSG, GSGSG...)
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- Ces sondes sont disponibles pour différents espacements (pitch) de 25µm à 90µm
- Recommandation pour une configuration GSG pour de meilleures performances
- Faible perte et faible dispersion, contact de faible résistance
- Guide d'onde WR-3, Bias T optionnel
- Disponibles en BeCu
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Ce micropositionneur spécifique aux mesures sous pointe RF très haute fréquence à tête milimétrique permet d'accueillir les multiplicateurs de fréquences.

- Configuration Est, Ouest
- Vissé sur la platine de la station de test sous pointe pour une meilleure stabilité
- Réglage angulaire pour garantir le contact des têtes milimétriques (configurations GS, GSG, ...)
- S'adapte aux différents modèles de multiplicateur de fréquence (Rohde & Schwarz, Keysight, VDI ...)
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Une gamme de sondes pour application millimétrique de 500 à 750GHz, en configuration GSG, GS ou SG.

- Ces sondes sont disponibles pour différents espacements (pitch) de 25µm à 35µm
- Recommandation pour une configuration GSG pour de meilleures performances
- Faible perte et faible dispersion, contact de faible résistance
- WR-1.5 waveguide, Bias T optionnel
- Disponibles en BeCu


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Une gamme de sondes pour application millimétrique de 750 à 1100GHz, en configuration GSG, GS ou SG.

- Ces sondes sont disponibles pour différents espacements (pitch) de 25µm à 35µm
- Recommandation pour une configuration GSG pour de meilleures performances
- Faible perte et faible dispersion, contact de faible résistance
- WR-1.0 waveguide, Bias T optionnel
- Disponible en BeCu

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