HMS3000      Système de mesure par Effet Hall manuel

HMS3000 : Système de mesure par Effet Hall manuel HMS3000 : Système de mesure par Effet Hall manuel
HMS3000 : Système de mesure par Effet Hall manuel HMS3000 : Système de mesure par Effet Hall manuel
HMS3000 : Système de mesure par Effet Hall manuel HMS3000 : Système de mesure par Effet Hall manuel
HMS3000 : Système de mesure par Effet Hall manuel HMS3000 : Système de mesure par Effet Hall manuel
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Référence

HMS3000

Désignation

Système de mesure par Effet Hall manuel

Description

Découvrez notre système d'effet Hall manuel HMS3000, conçu pour l'étude et la caractérisation des propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs et des couches minces. Cet équipement pédagogique et expérimental permet d'analyser avec précision la mobilité des porteurs de charge, la concentration en porteurs, ainsi que la résistivité des échantillons.

Grâce à la mesure des tensions générées sous l'action des forces de Lorentz via son module d'aimant permanent, le système offre une compréhension concrète des phénomènes de transport électronique et des effets liés au dopage des matériaux. Compatible avec la méthode de Van der Pauw, il permet d'effectuer des mesures fiables sur des géométries variées et des films minces.

Robuste et simple d'utilisation, ce système effet Hall manuel est idéal pour les laboratoires d'enseignement supérieur, les centres de recherche et les applications de caractérisation en physique des semi-conducteurs et science des matériaux.

Il est ainsi possible de calculer :

• Mobilité de porteurs de charges
• Densité de porteurs majoritaires (dopants)
• Le type de dopage (P/N)
• La tension de Hall / Coefficient de Hall
• Des résistances de surface, résistivité, conductivité

Caractéristiques :

• Taille d'échantillon: 5x5mm à 20x20 mm
Mesure à deux températures, ambiante et 77K
Aimant simple ou double
Chambre LN2
Échantillon de référence ITO
Porte-échantillons SPCB différents selon l'application

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Références courantes

  • HMS3000-MS100T : Avec aimant permanent 1T • Porte-échantillon SPCB-00 inclus • Température ambiante uniquement
  • HMS3000-EVM100N2R : Avec aimant variable de 0,25T à 0,9T • Champ : 0,25 ~ 0,9 T à température ambiante • Champ : 0,25 ~ 0,5 T à température ambiante et 77K
  • HMS3000-MS51R : Avec aimant permanent 0,5T • Porte-échantillon SPCB-01 inclus • Température ambiante ou 77K
  • HMS3000-MP51R : Avec deux aimants permanents de 0,5T • Glissière 3 positions : Pas d'aimant, N/S et S/N • Porte-échantillon SPCB-01 inclus • Température ambiante ou 77K

Spécifications techniques

Taille de l'échantillon

5x5 à 20x20 mm

Epaisseur maximum de l'échantillon

2 mm

Nombre de pointes de tests

4 x pogo-pin plaquées or

Puissance de l'aimant

0,31 - 0,37 - 0,51 ou 1 T

Type d'aimant

Permanent

Matériau de l'aimant

Néodyme

Mouvement de l'aimant

Manuel

Gamme de température

Ambiant et 77K

SMU

Interne

Gamme de courant

1nA à 20mA

Tension maximum

10 V

Gamme de résistivité

10E-4 à 10E7 ohm.cm

Gamme de concentration

10E7 à 10E21 cm-3

Gamme de mobilité

1 à 10E7 cm2/Vs

Logiciel

Oui (Windows)

Licence

Multi-postes

Courbes IV

Oui

Calcul des paramètres

R, Res, Mob, Concentration, Hall

Rampe de température

Non

Export des données

CSV

Communication

USB

Ordinateur

Non inclus (optionel)

Besoins électriques

230VAC - 50Hz - Mono - 1A

Dimensions

400 x 450 x 120 mm

Poids

9 Kg

Produits associés

Porte-échantillon pour systèmes HMS

SPCBPorte-échantillon pour systèmes HMS

Optimisez vos campagnes de caractérisation grâce à nos porte-échantillons spécialement conçus pour les mesures d'effet-Hall.

Équipé de quatre contacts à ressort plaqués or (pogo-pins), il assure un contact fiable, reproductible et sans dommage avec les échantillons.
Grâce à la force de contact contrôlée des contacts à ressort, l'installation de l'échantillon est rapide et ne nécessite ni soudure ni fixation permanente. Cette conception garantit une excellente stabilité électrique tout en compensant les variations d'épaisseur et les tolérances dimensionnelles des matériaux testés.
Système de mesure par Effet Hall semi-automatique en température

HMS5000Système de mesure par Effet Hall semi-automatique en température

Le HMS5000 est un système de mesure par effet Hall motorisé dédié à la caractérisation électrique des matériaux semi-conducteurs par la méthode de Van der Pauw. Conçu pour s'adapter à des échantillons de compositions et de géométries variées, il permet l'extraction précise de nombreux paramètres électriques essentiels.
Compatible avec des mesures en température de 77 K à 350 K, le HMS5000 offre une solution complète pour l'analyse des couches minces semi-conductrices.

Grâce à sa grande polyvalence, le système convient aussi bien aux activités de recherche qu'aux applications de développement et de contrôle qualité dans les domaines des matériaux avancés et de la microélectronique.

Le HMS5000 intègre également un logiciel dédié permettant de vérifier la qualité des contacts ohmiques via le tracé automatique des courbes I-V, garantissant ainsi la fiabilité et la reproductibilité des mesures. Il permet aussi de gérer le mouvement des aimants et les rampes de températures pour tracer la réponse de votre échantillon.

Il est ainsi possible de calculer :

• Mobilité de porteurs de charges
• Densité de porteurs majoritaires (dopants)
• Le type de dopage (P/N)
• La tension de Hall / Coefficient de Hall
• Des résistances de surface, résistivité, conductivité

Caractéristiques :

• Taille échantillon : 5x5mm - 20x20mm
• Double aimant motorisé : 0.5T
Mesure en température : 77K à 350K
Gamme de courant : 1nA - 20mA

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Système de mesure photonique par Effet Hall

HMS7000Système de mesure photonique par Effet Hall

Notre système d'effet Hall semi-automatique HMS7000 photonique, conçu pour l'étude et la caractérisation des propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs et des couches minces sous illumination. Cet équipement pédagogique et expérimental permet d'analyser avec précision la mobilité des porteurs de charge, la concentration en porteurs, ainsi que la résistivité des échantillons.

Grâce à la mesure des tensions générées sous l'action des forces de Lorentz via son module d'aimant permanent, le système offre une compréhension concrète des phénomènes de transport électronique et des effets liés au dopage des matériaux. Compatible avec la méthode de Van der Pauw, il permet d'effectuer des mesures fiables sur des géométries variées et des films minces.

L'illumination photonique, utilisant 3 LED de couleurs différentes, génère des porteurs de charge supplémentaires dans le semi-conducteur (électrons/trous), ce qui améliore ou module la réponse Hall.

Robuste et simple d'utilisation, ce système effet Hall manuel est idéal pour les laboratoires d'enseignement supérieur, les centres de recherche et les applications de caractérisation en physique des semi-conducteurs et science des matériaux.

l est ainsi possible de calculer :

• Mobilité de porteurs de charges
• Densité de porteurs majoritaires (dopants)
• Le type de dopage (P/N)
• La tension de Hall / Coefficient de Hall
• Des résistances de surface, résistivité, conductivité


Spécifications :

• Aimant fixe : 0.51T
• Module photonique "illumination visible" (LED R,G,B)
• Adaptateur source externe (UV, IR)

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
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