SPCB      Porte-échantillon pour systèmes HMS

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

SPCB      Porte-échantillon pour systèmes HMS

Description Spécifications techniques Documents Produits associés

Référence

SPCB

Désignation

Porte-échantillon pour systèmes HMS

Description

Ce porte-échantillon "rapide" est composé d'une carte PCB sur laquelle se fixent par clip l'échantillon à analyser (max 25x25mm excepté HMS3000 65x65mm).

- Quatre pointes à ressort plaquées or permettent le contact sur les cotés de l'échantillon (dans certains cas une goutte de soudure d'indium sera déposée en plus, selon le type de matériau)
- Montage sans soudure

Références courantes

  • SPCB-01 : Pour échantillon de 5x5mm à 20x20mm, épaisseur <2mm
  • SPCB-11 : Pour échantillon de 15x15mm à 30x30mm, épaisseur <2mm
  • SPCB-21 : Pour échantillon de 5x5mm à 20x20mm, épaisseur <2mm (pour HMS5000 seulement)

DOCUMENTS

Spécifications techniques

Taille de l'échantillon

5x5 à 25x25 (65x65 sur HMS3000) mm

Epaisseur

5,5 max mm

Type de contacts

4 pogo pins plaquées or

Température

Non

Compatibilité

HMS3000, HMS5X00/RTSK, HMS7000/RTSK

Produits associés

HMS3000 - Système de mesure manuel par Effet Hall
Le HMS3000 est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall... Il utilise la méthode Van Der Pauw et permet de caractériser les couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires...

Il inclut :

- Socle aimant au choix : 0.55T et 1T (aimant variable possible)
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure à température ambiante et à 77K

Le HMS3000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs à 300K et 77K (température ambiante et température de l'azote liquide).
HMS5000 - Système de mesure par Effet Hall en température (semi-automatique)
Le modèle HMS5000 permet de caractériser un grand nombre d'échantillons possédant une couche semi-conductrice accessible par la méthode Van Der Pauw.
Cet appareil à source de courant constante et aimant permanent permet la mesure sur des couches semi-conductrices, compounds, cellules solaires... de paramètres tels que résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

La configuration de base inclut :

- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation et contact sur l'échantillon par clip rapide
- Mesure en température

Le HMS5000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs à 350K et 77K (température de l'azote liquide).
HMS5300 - Système de mesure par Effet Hall hautes températures (semi-automatique)
Le modèle HMS5300 est un complément au système HMS5000 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...

- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 570K

Le HMS5300 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.
HMS5500 - Système de mesure par Effet Hall très hautes températures (semi-automatique)
Le modèle HMS5500 est un complément aux systèmes HMS5000-5300 avec une gamme de température plus élevée.
C'est un appareil à source de courant constante et aimants permanents pour la mesure de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...


- Il utilise la méthode Van Der Pauw
- Socle aimant : 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide et pratique de 5*5mm à 25*25mm
- Mesure en températures de 77K à 770K

Le HMS5500 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V. Les systèmes peuvent être utilisés pour caractériser divers matériaux : semi-conducteurs et semi-conducteurs composés (type N et type P) tels que Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs.
HMS7000 - Système de mesure Photonique par Effet Hall en température
Le modèle HMS7000 permet de mesurer divers paramètres en utilisant la mesure par Effet Hall, en fonction d'une longueur d'onde (RGB).
ll utilise la méthode Van Der Pauw et permet de caractériser les couches semi-conductrices, compound, cellules solaires...


Sont inclus :

- Logiciel + traçage de courbe I-V, R-V pour vérification des contacts ohmiques
- Socle aimant permanent 0.55T
- Système de fixation de l'échantillon par clip rapide
- Gestion de la température
- Option illumination LED RGB
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